仪器种类： 差示扫描量热仪
产地类别： 进口
温度范围（°C）： -150 ~ 500/700/1000 °C；RT ~ 1400/1500/1600/1650/1750/2000/2400 °C
升/降温速率（ K/min）： 0.001 ~ 50 K/min
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差热分析仪（DTA）是一种广泛应用的热分析技术，可以提供多种样品信息。Linseis DTA PT 1600具有优异的量热灵敏度，很短的时间常数和无冷凝样品室。这些特点保证了仪器在整个寿命内优异的分辨率和基线稳定性，是材料开发、研发和质量控制一个不可或缺的工具。Linseis差热分析仪（DTA）的仪器设计具有分辨率高、功能强大和易于使用的优点。
系统的模块化设计概念可以通过可更换炉体实现-150°C到2400°C温度范围的测试，因此配置了多种不同类型的传感器和坩埚。该真空密封设计可以实现使现10E- 5 mbar的真空下或纯净气氛的环境下焓和Cp （比热）的定量测定。此外，各种配件方便系统和MA、FTIR等仪器的同步联用。
| 温度范围： | -150°C — 500/700/1000°C |
| 室温 — 1400/1500/1600/1650/1750/2000/2400°C | |
| 加热速率： | 0.001 K/min— 50 K/min |
| 冷却速率： | 0.001 K/min— 50 K/min |
| 热电偶： | E/K/S/B/W |
| 气氛： | 还原性，氧化性，惰性气氛 (静态，动态) |
| 真空度： | 10-5mbar |
| 测量支架： | TG-DTA |
*价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。
地矿 2019-06-06
地矿 2019-06-06
| 用户单位 | 采购时间 |
|---|---|
| 中科院工程物理所 | 2006-04-26 |
| 上海工程技术大学 | 2006-11-07 |
| 中科院硅酸研究所 | 2007-10-30 |
| 国家药监局 | 2006-07-31 |
| 清华大学 | 2007-11-30 |
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 是
免费仪器保养: 按需
保内维修承诺: 按需
报修承诺: 按需
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