手提式X射线荧光测厚仪
手提式X射线荧光测厚仪

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核心参数

产地类别: 进口

仪器简介:

实验室搬到现场
快速、准确、无损的手提式XRF分析仪,甚至可以挂在皮带上

美国Matrix Metrologies公司最新推出世界首创的手提式XRF测厚及成份分析仪-HMX系统。

HMX系统不仅具有操作简单、重量轻、电池供电的特点,而且具有实验室XRF的全部功能。

HMX系统特别适用于任何尺寸电镀件快速的厚度测量和成份分析。对于台式XRF很难甚至无法测量的大体积电镀件,而对于HMX系统来说,则是最理想的测量工具。

全便携、无需特殊设置、无需操作者有丰富经验,HMX系统胜任实验室测量以及现场测量,节约了运输被测部件的时间及费用。

只需一台HMX系统,就可以完成对来料的质量检测、基材的前处理检测、电镀过程中的随机检测以及电镀件的最终检测。

HMX系统也是唯一的一种能够同时测量小部件的手提式仪器。只需简单地“定位和测量”,仪器就会自动产生厚度的平均值。

现在,需要快速、准确、功能强大的XRF系统的用户,无论何时何地,都有了最好的选择:
选择就是:Matrix Metrologies
选择就是:HMX系统
选择就是:北京精德联合科技有限公司

实验室搬到了现场



技术参数:

重 量: 基体配置1.2kg;1.6kg带电池
尺 寸: 长度:30cm;高度:23cm;宽度:7.5cm
X射线发生器:银或钨靶微型X射线管;10-40kV,10-50µA
主要过滤器:5个过滤器
测量尺寸:接触样品表面测量时,7.75 mm
X射线探测管:Si-PIN高分辨率探测系统
温度范围:-10℃—50℃
电源: 可充电锂离子电池;含2块电池及充电器;AC转换器及多电池电源可选购。
参数调整:不锈钢316作为参考标准



主要特点:

HMX系统主要特点
无论体积多大的电镀件,HMX系统是理想的解决办法
对于QC、电镀线以及实验室分析等应用的现场测量
现场的样品分析
基材管理的合金分类以及合金确认
独特的“分组测量”模式,允许计算一组部件的平均厚度

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