高功率半导体（激光二极管）LIV测试分析仪

激光二极管光电特性测试分析系统 / 半导体芯片测试系统

短脉冲大电流测试系统-LIV100

LIV系列是专门用于激光二极管光电特性测量的系统，测试样品无论封装的还是裸芯片形式，均可在极短的时间内完成全部LIV测量。

LIV测试对象：

LIV100是用于激光二极管（chip, bar以及submount）光电特性分析的短脉冲测试系统。

主要特点：

l         上升时间：50ns (F-version)；500ns (L-version)；1μs (XL-version)

l         最大电流：250mA-600A，最大电流阶跃数：4000

l         只适用于脉冲测量

l         USB接口控制，同步光谱测量

l         处理能力：1s/每器件（典型）

LIV100提供三种不同测试速度和脉冲长度的版本：

l         LIV100-Fxxx（短脉冲版）：上升时间50ns，脉冲宽度范围150ns-10μs。

l         LIV100-Lxxx（长脉冲版）：上升时间500ns，脉冲宽度范围2μs-100μs。

l         LIV100-XLxxx（超长脉冲版）：上升时间1μs，脉冲宽度范围5μs-2000μs。

应用领域

应用范围包括激光二极管半封装或封装前后的特性分析，来料检测以及OEM。软件支持一键生成测试样品完整的PDF数据表。

LIV100的短脉冲性能可以确保测试样品可以在忽略热负荷的情况下进行测量。

运行原理

LIV100系统通过USB接口控制，实现自动测量。从控制计算机上传一个命令集，执行开始命令后，LIVs会按自动按照测量序列执行测量。快速的数据采集提供了高测量效率。

附件：

l         积分球

l         光谱仪

l         带状（针状）连接器

l         真空卡盘

l         TEC和TEC驱动器

注意：标准型LIV100不具备CW测量模式。如有需要，可以按要求定制具备CW测量的LIV100

如果需要CW和脉冲两种测量模式，请考虑LIV120系列，脉冲宽度： 1001μs-CW。

脉冲/QCW/CW测试系统LIV120

LIV120是一款功能强大的用于实验室以及OEM应用的激光二极管测试系统。适用于脉冲/QCW/CW测量以及老化测试，测量周期通常少于1秒。

主要特点：

l         最大电流：250mA-1200A

l         最大电流阶跃数：4000

l         USB接口控制，同步光谱测量

l         波长范围：250-1100nm; 400-1650nm

l         测量光功率，电压，电流，监测电流等

运行原理

命令集上传到LIV120后，LIV120按命令集驱动测试样品，并进行数据采集和存储。

便捷/强大的处理软件：

LIV120有CW和脉冲两种工作模式：

                         CW-LIV模式                                                   脉冲burst模式

                        CW-burst模式                                                 脉冲LIV模式

    LIV120可以运行所谓 “软脉冲”模式。也就是脉冲模式下，如果用户设置最小电流值，电流脉冲就不会掉落至零。请注意非常清晰的方形电流脉冲。

              电流输出（min=0）                                                             电流输出（min ≠0）

激光二极管驱动器LDD100

       LDD100是一款强大的激光二极管驱动器，适用于实验室以及OEM。例如：激光二极管LIV测试以及老化测试。

特点：

• 最大200A电流，50ns-3s脉宽，25ns上升/下降时间（无过冲）。

• LDD100采用数字可编程模拟平台对电流进行灵活精确控制。

• USB接口直接控制，可实现自动测量。

• 所有参数可以通过图形化软件或集成键盘和LCD输入显示。

• 支持带状线定制服务

LDD100-F40（40A脉冲）输出脉冲波形

欲了解产品详细信息，请联系公司销售人员。