BenchTOF-dx飞行时间质谱仪

BenchTOF-dx是高性价比的痕量分析TOF-GC/MS

BenchTOF-dx是快速高效的反射式飞行时间质谱仪，用于复杂样品中超痕量的挥发性和半挥发性有机化合物的分析。由英国ALMSCO公司研制生产，采用新颖的设计和ALMSCO独家的噪音控制技术，BenchTOF-dx具有卓越的：

1. 灵敏度
2. 分辨率
3. 谱图数据
4. 稳定性、耐用性
5. 特别适用于超痕量物质检测

BenchTOF-dx 主要特点

1. 先进的离子光学-直接离子提取技术，最大化提高灵敏度。全扫描模式数据即可达到四级杆选择离子检测模式的灵敏度水平。(>800:1 s/n for 1 pg OFN while scanning over full mass range with DBC)
2. 增强的痕量物质检测功能
3. 高速扫描和数据采集读写速度(10,000 Hz)完全兼容快速GC、GC x GC（全二维气相色谱） 和复杂GC应用，磁盘数据写入速度可达100"scansets"/s。
4. 质量范围1～1000 amu，质量分辨率1000，确保与任何GC应用兼容
5. 12C/13C 同位素分辨率可达0.01 amu
6. 长效质量/检测器响应稳定性，降低调谐和校准的频率，增加系统工作效率
7. 独一无二的降噪技术，完全不需要手动数据处理
8. 与现有的第三方GC/MS 数据分析软件无缝连接，是操作人员可以使用自己熟悉的数据处理软件包。
9. 多用途：可以与任何品牌的GC相连。
10. 低成本，小巧紧凑的设计，适应任何实验室环境，预算小。

直接离子提取技术-灵敏度显著增强


在四级杆质谱中，由于使用质量过滤器，同一时间，从离子源电离的离子只有一部分最终到达检测器，这种方式极大的降低了灵敏度。

在TOF MS（飞行时间质谱）中，离子源中电离的所有离子都通过飞行管道，直接到达检测器，这中间没有质量过滤过程，因此极大的提高了灵敏度。飞行时间质谱的全扫描模式灵敏度应该与四级杆质谱选择离子监测（SIM）模式的灵敏度相同。

但是传统的飞行时间质谱并不能达到这一理论值，原因是从离子源中提取离子的方式（一般采用垂直方式）。

BenchTOF-dx 则采用了创新的离子光学系统，放弃使用传统的垂直离子提取方式，创新的采用高效直接离子提取方式将离子源中的带电粒子提取出来送入飞行管道，这样的设计使从离子源中提取出来的离子几乎没有损失，与其它飞行时间质谱相比，显著的提高了灵敏度。

BenchTOF-dx: 稳定耐用的 GC/MS

该系统设计紧凑，确保长时间稳定运行

1. 质量稳定: 质量数不受日间温度变化和其它因素变化影响
2. 4个数量级线性范围，结果精确，无需经常质量校准。
3. 机械结构设计稳定并很方便的让使用人员进行常规的维护。
4. 功能强大并易于使用的软件
5. 仪器关键参数全自动控制（如检测器参数优化）

同大部分型号的GC和GC软件无缝连接控制

ALMSCO公司提供BenchTOF-dx 的dx-View™软件用于系统控制和数据分析，同时也可以通过dx-Connect™与目前大部分的GC数据分析软件兼容使用。

兼容的第三方GC/MS数据软件种类:

1. Agilent Technologies ChemStation
2. Thermo Fisher XCalibur®, and
3. Shimadzu GCMS solutions

dx-Connect的功能:

1. 实时数据显示
2. 与GC同步
3. 灵活的数据输出格式

通过BenchTOF-dx 和dx-Connect, 可以通过大部分第三方GC数据分析处理软件设置控制GC参数和运行GC程序。

dx-View :dx-View 是ALMSCO公司自己开发的用于BenchTOF-dx数据处理的软件，可以替代其它第三方GC/MS数据处理软件。

动态背景补偿功能 (DBC): 独一无二的实时、全自动背景扣除

DBC 是一种创新的实时数据处理算法，该技术在BenchTOF-dx上做为标准配置。该技术使用创新的数学算法来区别并排除谱峰中的微弱背景干扰。在与普通GC或者高速GC联机使用时，进行谱图背景动态补偿修正，同时并不影响任何色谱峰数据信息。

在此过程中产生2个文件，DBC数据和非DBC数据。用户也可以使用ALMSCO公司的ClearView软件将标准BenchTOF-dx DBC的优势通过实验室网络系统应用于任何GC/MS数据。关于ClearView的详细内容，请参考相应应用章节。

通过DBC的选择性排除背景干扰功能，积分操作变得非常简单，提高了定量的精确度和重复性。

软件可以排除谱图偏离，提高谱库鉴定结果准确性

BenchTOF-dx 具有高速数据采集速率（每秒10,000 次全扫描），完全排除谱图偏离，因此该系统能够从总离子流图中精确的解析出单组分，是理想的MS分析平台。

谱图偏离通常发生在低速扫描的仪器中（如四级杆仪器），这是由于在全质量扫描过程中，从气相色谱柱中流出的离子组分比例变化造成。提高扫描速率可以排除质量偏离，但是以损失灵敏度为代价。

ALMSCO公司的TargetView软件是更为先进的数据分析和谱图解析软件，经过质量偏离校正的数据可以直接用TargetView来进行数据分析和谱图解析工作。

BenchTOF-dx 系统排除质量偏离并不损失仪器分析灵敏度。因此在谱库搜索过程中谱图匹配质量，尤其是在峰扫描起始和结束部分，非常有助于提高分析结果鉴定的准确性。