X射线衍射仪
X射线衍射仪

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核心参数
仪器简介:
GBC Difftech带来了真正称得上是“材料分析器”的衍射仪,其优异的性能包括:
● 可变平行光束和聚焦几何尺寸
● 可变粉末样品台和Eulerian Cradle
● 具有0.4度狭缝准直器的平行光束检测器
● 可变狭缝聚焦检测器和石墨单色计
● 两个检测器永久固定安装
● XOS多毛细管光纤产生10×10mm的准平行光束
● 平行光束半径250mm,聚焦半径175~250mm
● 用于纺织品和残余应力的Eulerian Cradle
● X射线荧光检测器可同时进行XRF和XRD分析

另外仪器还有如下独特之处:
● 重量轻,带提手,2个人即可搬运
● 革新性的谐波变速箱测角器
● 大而宽的加铅丙烯酸联锁保护防护窗
● 软件控制防护窗的开关按钮
● 久经考验的可靠电子学系统
● 可搬运而无需重新对准光路,尤其适合于野外作业


技术参数:
1.X射线发生器稳定性 0.005% 全负载变化,0.005% for 10% rms线性变化
2.扫描速度 多道平均,0.0002°/min~60°/min
3.光学系统 可变狭缝聚焦和平行(多毛细管)光学系统
4.平行光束 XOS多毛细管光纤,10×10mm断面,Osmic优级d形反射镜
5.X射线发生器功率 230 VAC±10%


主要特点:
1.织物—利用多毛细管光学系统的平行光束几何设计提高强度10倍,粒子统计学效果改善20倍(Schulz准直仪的照射面积为5 mm2,而多毛细管光学系统的照射面积为100 mm2),无需更换样品台
2.薄膜—多毛细管光学系统具有内在的达到约0.3度的准直作用,因而在小角度测量时具有优异的性能,灵敏度提高5倍左右,无需狭缝,也可以使用光缝来限制照射的面积。
3.粉末,平行光束模式—无需聚焦,所以无需固定样品高度,可以分析粗糙不规则的样品,每个谱峰都进行校准,大角度时谱峰强度提高10倍
4.粉末,聚焦模式—高分辨率聚焦扫描,粉末样品台以三角支架固定安装,高度精确可调。
5.残余应力—细线Eulerian Cradle能达到155度,依然有很好的聚焦,峰形没有延迟,可以获得更好的谱峰质心测量,谱峰强度更高,其统计学效果更好,测量更快。
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