电子电路研发过程中的微小温差，FLIR T560也能精准捕获！

在电路板设计的过程中，为保证电路板工作顺利进行，设计人员需要对电路板中的电子元器件进行温度检测，观察元器件的温度负载情况，以免出现短路、断路和接触不良等情况。

在电路发生短路的过程中，电路板上肯定会有局部温度过高的情况出现，断路则会产生局部的温度会比其他地方低的情况，所以利用这一点就很容易通过引入红外热像仪判断电路的故障点。

现如今电子产品尺寸日益微缩，最常见的表面贴装式PCBA部件的尺寸范围可从0603(1.6mm×0.8mm)到最小的0201(0.6mm×0.3mm)。普通的热像仪也许很难分辨其细小的温差，为精确测量这些部件的温度，您需要空间分辨率更加精细的检测。如果选购一款如此极致分辨率的热像仪费用会很高，但菲力尔可提供更优惠的解决方案！

微距模式下的PCBA红外热成像

配备标准24˚镜头和微距模式的FLIR T560专业红外热像仪可以轻松达到71µm的光斑尺寸，且无需更换镜头。在此条件下，T560能够针对尺寸为1.6mm×0.8mm的微小零部件进行精确的温度测量以及红外热成像。

FLIR的微距模式是一项创新功能，能够帮助研发、质量保证以及其他专业人员实现PCBA及其他电子产品部件测试的灵活性。搭配标准24˚镜头可以用于检测更大范围或者整个PCBA。一旦发现热点或者更小范围的待测区域，启用微距模式可以实现更深入的检测及热成像分析，且无需更换镜头。

在电子电路研发设计中，引入红外热像仪，对电子电路功耗设计和研究、散热效果分析、PCB布局优化、产品质量检测等方面有着不小的助力，但大量检测结果的整理，对于研发人员来说也是不小的工作量，对此菲力尔设计了专门的分析和报告软件——FLIR Research Studio。

红外热像仪通过对物体表面的热(红外电磁辐射)分布成像与分析，能够快速发现物体的热缺陷。目前已广泛应用于检测PCB电路板、芯片、LED、新能源电池与节能、充电桩等各种电路和设备，是电子工程师做热分析的必备工具。

FLIR T560专业红外热像仪

搭配Research Studio专业软件

可在电子电路设计测试的各个流程中

提供简便、快捷、精准的检测结果

为电子、航空航天、生命科学等

广泛应用领域的研究人员和工程师

提供极大的便利。