见证中国电镜技术新进展|“2023年度北京市电子显微学年会”在京召开

仪器信息网讯 2023年12月17日，“2023年度北京市电子显微学年会”在北京成功举办，由北京理化分析测试技术学会电子显微学专业委员会主办。此次会议旨在提升北京及周边省市电子显微学的学术和技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。会议邀请了多位专家学者进行先进的电子显微学报告，同时多家仪器厂商也介绍了最新仪器设备和相关应用技术进展。

会议现场

专家学者：聚焦中国电镜技术最新进展，国产电镜迈向高端化新征程

报告人：中国科学院自动化研究所 研究员 韩华

报告题目：面向切片阵列的三维电镜高通量成像及计算研究

韩华研究员首先详细讲解了微观脑连接图谱的三维电镜技术进展，他指出，随着科技及理论的不断创新发展，电镜技术也在日益精进。接着，他介绍了面向切片阵列的三维电镜高通量成像技术，该技术可实现跨平台的电镜切片阵列智能化成像和成像质量质量检测与反馈，为生物医学等领域的研究提供了一个更为准确、高效的路径。这一技术的出现，无疑将推动相关领域的研究取得更为显著的进展。

报告人：中国科学院生物物理研究所 研究员 孙飞

报告题目：生物医学电镜自主研制

报告初，孙飞研究员指出，目前我国整体高端科学仪器产品进口率超70%，随着一批核心技术、一批科研机构被美国列入管制名单，严重影响了我国科研创新能力的发展。因此，亟需探索高端科学仪器国产化。近年来我国科研工作者、仪器企业等在扫描电镜、冷冻电镜、透射电镜行业不断取得技术突破，未来有望持续突破海外厂商垄断。

孙飞研究员团队在电镜关键技术装备研发方面也取得了重要进展，从30kV开始，到突破关键部件（120kV）再到向整机研制进发，成功突破了高压场发射电子枪技术、高稳定高压电源技术、100kV电磁透镜组系统等关键核心技术。

最后他提出我国要实现高端科学仪器的自主研制，应该从核心技术、关键部件、整机研制三个层面切入，整合全国力量，统筹经费投入和项目布局；其次应形成产学研相互结合、相互促进的态势；最后应重视人才的培养，开设相关课程和专业，为高端仪器自主研制可持续发展储备人才。

报告人：北京师范大学 讲师 徐驰

报告题目：先进TEM表征技术在核能材料结构分析中的应用

先进TEM表征技术对于研究离子、中子、电子辐照产生的晶体缺陷具有举足轻重的作用，利用TEM分析技术可以对辐照位错环柏氏矢量、间隙空位特性、位错以及空洞尺寸数密度等进行分析，也可以对辐照产生的成分偏析、相变等进行分析，从而理解辐照损伤产生的机理。

原位辐照+TEM表征技术对于理解辐照损伤产生的动态过程具有重要意义，利用原位离子辐照技术可以快速获得不同辐照温度、剂量等条件下的辐照损伤情况；此外可以对辐照损伤产生的实时过程和机理进行理解分析。

报告人：北京大学 杜进隆

报告题目：纳米和亚纳米尺度上的声子测量

四维电子能量损失谱技术（4D-EELS）是基于扫描透射电子显微镜的角分辨、并行电子散射探测方案的一种测量技术。它能够实现空间、动量、能量的同时分辨，其空间分辨能力提升了约5个数量级，并且更便利、高效。这一技术的应用为纳米科学研究提供了新的有力工具，未来随着技术的不断发展，它的应用领域将进一步扩大。

报告人：中国科学院物理研究所 特聘研究员 陈震

报告题目：4D-STEM技术在不同应用领域的广泛运用

4D-STEM技术以其卓越的空间分辨率、时间分辨率以及单电子灵敏度，为材料微观结构的精确表征提供了强有力的手段。报告中，结合实际案例，详细地阐述了该技术在不同领域的广泛应用，展示了其在科学研究和技术创新中的重要地位。

报告人：西湖大学 研究员 孙异临

报告题目：如何做好超微病理诊断工作

孙异临研究员结合自身丰富的临床经验详细解答了如何做好一名超微病理医生。首先要具有扎实的医学基础和丰富的临床经验，对准备诊断的病理标本的组织学、解剖学等超微结构特点要了如指掌，并了解该病例患者的临床资料，全方位综合考虑，才能做出正确的电镜诊断结论。其次要熟悉生物电镜标本制备技术，严谨、细致的把好每一关，苛求把每例标本都做成精品。最后要熟练操作和使用电镜仪器设备，只有精益求精，将每一个步骤都尽可能做到极致，才能成为一名合格的电镜病理诊断医生。

仪器厂商：国产电镜与进口电镜同台竞技，共同推动电镜行业的发展与进步

日本电子张玮介绍了新一代高性能双束系统JIB-PS500i设备，该产品为下一代多用途FIB-SEM双光束系统，特别为处理TEM样品而定制，具有高分辨率，并在硬件方面进行了多项创新改进，以优化双光束系统的功能和TEM样品制备的工作流程。

微纳公司的黄钺对Quorum冷冻传输制备系统进行了深入的解析。该系统由自增压氮气罐、急速冷冻制备站、过冷氮气热交换系统、SEM原位液氮冷台等七个关键部分构成，确保了样品在含水状态下的真实结构得以完美保留。此外，黄钺还详细介绍了Croy-FIB/SEM的技术优势，包括能够直接观察含水样品，无需复杂的前处理步骤，以及能够减少电子对样品的辐照损伤。这些优势使得Croy-FIB/SEM技术在微纳领域具有广泛的应用前景。

日立公司的管玉鑫首先对日立公司的场发射扫描电镜产品线进行了全面的介绍。并详细介绍了全新场发射扫描电镜SU8700，其产品特点包括不依赖于样品台减速的超低压成像、兼顾高分辨率和200nA大束流，以及具有双显示器，可实现单通道/双通道/四通道/六通道显示模式等。这些特点使得SU8700成为一款功能强大、性能卓越的场发射扫描电镜，为科研提供了更高效、更准确的观察和分析手段。

艾博智业的李英东首先对公司的发展历程和技术发展历程进行了简要介绍。随后，他重点介绍了公司的AL系列离子研磨系统。这款产品是国内首创，将半导体制冷技术应用于离子研磨。其具有多种优势，包括能量分布更合理，双面减薄、离子束无遮挡，软硬件自研、交互友好，以及体积小、重量轻等。这些特点使得AL系列离子研磨系统在行业中具有很高的竞争力。

惠然科技的杨润潇介绍了F6000-RS产品，其是一款基于FE-SEM F6000场发射扫描电镜推出的拉曼集成一体化设备，该款产品的优势在于可高分辨表征物质内分子振动模态。通过耦合拉曼共聚焦光路进入真空样品仓，实现了样品在电子束和激光束之间的快速切换；SEM拥有6 mm无畸变视野及1 nm的分桥率，共聚焦Raman 2.5mm扫描范围及500nm横向1500nm纵向分辨率，是一个优秀的样品微观形貌分析平台。

牛津仪器的白雨莲介绍了AZtecWave-能谱+波谱一体化解决方案及其应用案例。同时也结合实例介绍了背散射电子和X射线成像探测器（BEX），该产品可同步采集BSE和X射线信号，用来表征分析区域的成分信息。

卡尔蔡司公司的曹艳明提到蔡司的原位解决方案，涵盖了从毫米到纳米、从二维到三维、从高分辨成像到丰富理化分析的原位动态显微表征，并从电、力、热、液四个方面详细介绍了蔡司的原位解决方案及其代表产品。

Gatan & EDAX的陆畅详细介绍了原位EELS在透射电镜表征中的应用，这种技术可以原位表征特定环境样品形貌及化学态的变化。此外，他还介绍了4D STEM技术在材料科学中的应用，这种技术能够提供更深入、更全面的材料信息，为科研和工业领域提供了重要的分析手段。

Tescan公司的艾钰洁首先介绍了TEM样品的不同制样方式。接着介绍了氙气等离子双束系统，其具有无Ga注入，薄损伤层，大面积快速剥离的优势。最后介绍了拉曼图像联用RISE解决方案，该方案利用SEM电子束的高分辨大景深及多种衬度为拉曼分析进行更准确的定位，实现同一位置多种衬度的同时观察。

国仪量子的刘怡童详细介绍了国仪量子的几款“明星产品”的特点及优势，其中包括SEM5000场发射扫描电镜、SEM5000X超高分辨场发射扫描电镜以及FIB双束电镜DB500等。同时还预告了中国首台国产商业透射电镜即将发布，这无疑将为科研和工业领域带来新的突破。最后，她表示国仪量子将继续深耕于国产电镜领域，为大家带来更先进的产品及更优质的服务，展现出对科技发展和用户需求的深度理解和坚定承诺。