半导体&电子测试测量,投稿:kangpc@instrument.com.cn
仪器信息网讯 2023年9月6日, 第二十届北京分析测试学术报告会暨展览会(简称BCEIA2023) 在北京·中国国际展览中心(天竺新馆)隆重开幕。BCEIA 展览会作为展示国际新技术、新仪器、新设备的窗口一直以来受到国内外众多专家、学者、科技人员的关注。
Quantum Design展位(展位号:E2140)
作为一家国际知名的科学仪器制造商,Quantum Design公司盛装亮相BCEIA 2023。其研发生产的一系列磁学测量系统及综合物性测量系统已成为业内先进的测量平台,广泛分布于全球材料、物理、化学、纳米等研究领域的科研实验室。
合影留念(左:曹立志,右:赵鑫)
参展期间,北京信立方科技发展股份有限公司(以下简称:信立方)副总经理赵鑫莅临Quantum Design展位,受到了Quantum Design中国总经理曹立志先生的盛情欢迎。双方就公司业务发展情况、仪器行业发展趋势、未来合作空间等方面进行了全面、深入的交流,进一步加深了Quantum Design与信立方彼此之间的了解和认可,探讨如何更好地为行业创新发展贡献力量。
多功能材料微区原位表征系统FusionScope
展会期间,Quantum Design公司带来并展示了一系列材料物性测量仪器,其中最受关注的莫过于其推出的多功能材料微区原位表征系统FusionScope。
随着材料性能在芯片制造、新能源、医疗、机械、机电等诸多领域的广泛应用,材料的体相成分信息表征已不能满足当前的研究,越来越多的研究者开始关注材料的微区结构。目前,微区性能通常使用多台设备切换不同表征手段相互印证,很难实现在纳米级精准度的前提下对某一微区进行表征,所获得的研究结果关联性较弱。为此,Quantum Design公司推出了多功能材料微区原位表征系统-FusionScope。
FusionScope采用Quantum Design自主研发的AFM&SEM多功能一体化集成设计。通过结合SEM和AFM的互补优势,直接选取感兴趣的区域,即可在同一时间、同一样品区域和相同条件下完成样品的原位立体综合表征,实现对样品微区域的三维形貌结构、力学、电学、磁性和组成成分进行原位立体综合表征。受益于快速直观的软件设计,方便提取和分析所相关数据。结合高分辨率SEM和最先进的AFM,您可以轻松完成各类高难度测量。
此外,多种AFM功能与SEM原位联用,极大程度上发挥出两种常用显微镜的技术优势,实现同一时间、同一样品区域和相同条件下的原位共享坐标测量,避免样品转移过程中的污染风险,特别适合环境敏感样品;利用SEM进行实时、快速、精准导航AFM针尖,从而实现AFM对感兴趣区域的精准定位与测量。无需转移样品,原位进行80°AFM与样品台同时旋转。
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