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近期，苏州市计量院收到了国家计量比对项目“金属膜厚量值计量比对”(项目编号：2021-B-09)结果满意的通知单。此次比对由国家市场监督管理总局组织、中国计量科学研究院主导。
膜厚加工沉积是半导体、微电子、集成电路制造中的重要环节，膜厚量值大小会直接影响电子产品的质量、功能、可靠性及寿命，由于长三角地区电子工业的快速发展，膜厚量值的准确测量和溯源成为保证电子产品质量和相关产业发展的关键。此次能力比对依据JJF 1306-2011《X射线荧光镀层测厚仪校准规范》，对校准过程、原始记录及校准证书的正确性、规范性进行评估。验证结果表明苏州市计量院X射线荧光镀层测厚仪校准装置运行正常，向社会出具的测量数据是准确可靠的。
通过参加此次能力验证，苏州市计量院检测人员也得到了锻炼，检测技术水平获得了提升。今后，苏州市计量院还将在半导体、微电子、集成电路产业中一如既往保持能力，更好地为客户提供优质、便捷、贴心的服务！
[来源：苏州市计量院]
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