​全新一代 X 系列红外热像仪：FLIR X8580 和 X6980

高速、高分辨率 

全新一代高速高分辨率红外热像仪——X8580和X6980系列中波和长波红外光谱范围的科研热像仪，采集帧率快，噪声低，并带有记录、触发和同步功能。

具备远程调焦能力，数据传输迅速，能将数据直接录制到机载固态硬盘上，此款热像仪能提供高质量热图像，同时节省您的时间，使用户能从容应对动态数据采集环境。 

选择适合您研究项目的一款热像仪 

FLIR X8580：X8580 系列热像仪分辨率高，集成了1280x1024的红外探测器，能够低噪声地检测出微小的温度差异。

借助它，用户可以进行印刷电路板无损测试、辐射指标测量，以及采集高速冲击试验的应力场分布图和目标特征图的数据。

此外，带有长波应变超晶格探测器的X8580 SLS ，拥有更短的成像曝光事件和更宽的温度动态范围，能帮助研究人员准确捕捉整个高速事件中的每个动态细节。 

FLIR X6980：捕捉高速运动事件中的一帧热图像，例如热瞬变，即便是对锂电池进行破坏测试，你也需要一台能够以每秒1000帧的速度捕捉详细细节图像的热像仪。FLIR X6980 MWIR 和 X6980 SLS LWIR 热像仪提供您所需要的高速，高灵敏度，以及电动远程调焦镜头。

 如欲了解更多详细信息，您可以留言或直接与我们联系。

 全新的、具有颠覆力的特性 

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（点击图片即可获得详细参数）

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