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半导体材料与器件的微尺度显微表征对于其性能研究具有重要的意义，仪器信息网整理了三位报告专家从扫描探针技术、透射电镜、缺陷表征等方面对于半导体研究的精彩内容。
《扫描探针技术在半导体材料及器件表界面分析中的应用》
视频选自2020年半导体材料与器件研究与应用网络会议(报告人：暨南大学教授 谢伟广)
《半导体纳米材料原子尺度结构性能关系的透射电子显微学研究》
视频选自2020年半导体材料与器件研究与应用网络会议(报告人：华中科技大学武汉光电国家研究中心副教授 李露颖)
《硅基III-V族光电器件及其缺陷的表征》
视频选自2020年半导体材料与器件研究与应用网络会议(报告人：中科院苏州纳米技术与纳米仿生研究所项目研究员 樊士钊)
[来源：仪器信息网] 未经授权不得转载
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