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材料表征“一站式”课堂:近20类表征技术云端讲解,免费报名中

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分享: 2020/12/11 17:57:21
导读: 2020年12月15-16日,仪器信息网将线上举办“2020年材料表征与检测技术”主题网络研讨会。

材料表征与检测技术,是关于材料的成分、结构、微观形貌与缺陷等的分析、测试技术及其有关理论基础的科学。是材料科学与工程的重要组成部分,是材料科学研究、相关产品质量控制的重要基础。

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2020年12月15-16日,仪器信息网(instrument.com.cn)将线上举办“2020年材料表征与检测技术”主题网络研讨会,两天的会议将汇集9位材料表征技术领域知名专家和9位知名仪器企业资深应用专家,为大家详细讲解材料表征检测常用的近20类检测技术及应用。旨在为材料研究工作者提供广泛材料表征检测技术的“一站式”云端学习平台。

两天的会议将分设成分分析、表面与界面分析、结构形貌分析、热性能分析等四个专场,,以线上报告分享、在线网友答疑互动形式,针对材料科学常用表征及分析检测技术进行探讨。

会议时间:12月15-16日

会议形式:线上直播,免费参会

参会对象:材料学科研、材料领域研究开发、检测技术工作者等

报名方式:报名链接

https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/CLBZFX2020/

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扫码报名


内容摘要

专场设置

讲解技术

成分分析

色谱、质谱、电子探针、X射线荧光光谱(XRF)、热脱附

表面与界面分析

拉曼光谱光电子能谱(XPS)、扫描探针显微技术(SPM)

结构形貌分析

聚焦离子束-电子束双束电镜、电子背散射衍射(EBSD)、X射线衍射(XRD)

热性能分析

热重分析(TGA)、差热分析、差示扫描量热(DSC)、热分析联用技术


报告嘉宾


成分分析专场(12月15日上午)


国家钢铁材料测试中心 高级工程师 孙晓飞

分享题目:X射线荧光光谱在高温合金成分检测中的应用

日本电子 产品经理 胡晋生

分享题目:电子探针的分析特点和国内市场情况介绍

赛默飞世尔科技(中国)有限公司 应用工程师 佘晓萌

分享题目:X射线荧光光谱仪在镀层样品分析中的应用

沃特世科技(上海)有限公司 高级应用工程师 李欣蔚

分享题目:不同色谱、质谱手段应对成分解析挑战的思路分享 ---善用小工具、实现大效用

玛珂思仪器 技术支持经理 张兵

分享题目:热脱附在材料散发及异味物质监测中的应用与相关法规介绍


表面与界面分析专场(12月15日下午)


中山大学 研究员 陈建

分享题目:电催化还原反应中的表面吸附调控及其原位拉曼研究

中国科学院化学研究所 副研究员 刘芬

分享题目:XPS技术及在材料表界面分析中的应用

北京师范大学 教授级高工 吴正龙

分享题目:光电子能谱(XPS)中复杂谱峰的解析

岛津企业管理(中国)有限公司 产品应用专家 陈强

分享题目:SPM——表面分析与界面观测

布鲁克  资深应用科学家 孙万新

分享题目:基于扫描探针技术在表面及界面进行纳米尺度物理性质定量表征

结构形貌分析专场(12月16日上午)


中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员 曾毅

分享题目:电子背散射衍射标定方法研究

中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员 程国峰

分享题目:Rietveld结构精修原理与应用

赛默飞世尔科技(中国)有限公司  应用工程师 居威材

分享题目:赛默飞K-Alpha光学实时XRD技术及应用介绍


日本电子 应用工程师 席得圣

分享题目:聚焦离子束-电子束双束设备JIB-4700F介绍


热性能分析专场(12月16日下午)


中国科学技术大学 高级工程师 丁延伟

分享题目:热分析技术在材料研究领域应用中的常见问题分析

中国科学院上海硅酸盐研究所 助理研究员 陶冶

分享题目:薄膜材料的热物性测量

南京大学  胡文兵教授课题组成员 陈咏萱

分享题目:示差扫描量热法DSC技术进展及其在高分子材料表征中的应用


梅特勒-托利多 技术专家 陈成鑫

分享题目:于细微处见学问-热分析坩埚的选择和应用


[来源:仪器信息网] 未经授权不得转载

标签: 材料
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作者:葱头

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