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Photonic Lattice发布PHL残余应力测量仪新品

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分享： 2020/09/03 19:07:22
导读： 近日，北京欧屹科技有限公司在仪器信息网发布PHL残余应力测量仪新品

PHL残余应力测量仪

    主要简介：   

WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC等高分子材料，是Photonic lattic公司以其光子晶体制造技术开发的产品，独特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的机器，最适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。

 

主要特点:

  • 操作简单，测量速度可以快到3秒。

  • 采用ＣＣＤCamera，视野范围内可一次测量，测量范围广。

  • 测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。

  • 具有多种分析功能和测量结果的比较。

  • 维护简单，不含旋转光学滤片的机构。

  • 可测样品尺寸更大。


主要应用： 

· 光学零件（镜片、薄膜、导光板）

· 透明成型品（车载透明零件、食用品容器）

·透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）

·透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）

·有机材料（球晶、FishEve）

 技术参数：

项次

项目

具体参数

1

输出项目

相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】

2

测量波长

520nm、543nm、575nm

3

双折射测量范围

0-3500nm

4

测量最小分辨率

0.001nm

5

测量重复精度

<1nm（西格玛）

6

视野尺寸

33x40mm-240×320mm（标准）

7

选配镜头视野

3×4-12.9×17.2mm

8

选配功能

实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制


测量案例：

 


创新点：

操作简单，测量速度可以快到3秒。 采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。 测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。 具有多种分析功能和测量结果的比较。 维护简单，不含旋转光学滤片的机构。 可测样品尺寸更大。

PHL残余应力测量仪

[来源：仪器信息网] 未经授权不得转载

标签： 新产品Photonic Lattice折光仪(折射仪)
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