法国Cordouan发布Vasco Kin原位时间分辨纳米粒度分析仪新品

    Vasco Kin原位时间分辨纳米粒度分析是新一代动态光散射纳米粒度分析仪，通过远程光学探头，进行原位非接触测量和反应动力学，用于监测纳米颗粒的合成、团聚或悬浮液稳定性的研究或监测。常用于实时纳米颗粒合成过程监控, 核反应堆内现场测量，与其它粒度特性测量仪器联用(如光谱仪、SAXS等)。

• 粒度测量范围 : 0.5nm 到 10μm

• 背向动态光散射原理，实时远程非接触测量

• 监测纳米颗粒合成过程；监测整个过程的粒度变化情况，有助于稳定性研究

• 全自动非接触测量：能穿透玻璃和塑料针管，测定包装物及反应釜中的粒度分布和随时间的变化

• 适用样品浓度：0.1ppm-40%（w/v）

• 时间分辨: DLS的分辨率为0.2s，用于动力学监测

• 随时间变化的粒度分布彩色地形图

• “时间切片”功能：用户对测试后数据可进行任意时间段内的粒度分析

• 样品前处理：无需样品前处理，直接测试

  
  

• 硬件规格（核心单元）：
  1. 激光源：     高稳定性激光二极管（可选蓝光和绿光）
  2. 探测器：     无伪影雪崩光电二极管（APD）
  3. 计算设备： 内嵌专用电脑
  4. 数据处理： NanoKin® 相关和分析软件
  5. 典型测量时间：最快200ms。测量时间由样品和测量设置决定
  6. 操作条件/存储条件：15℃ ~ 40℃ / -10℃ ~ 50℃ – 非冷凝相对湿度 < 70%
  7. 尺寸/重量：    220 x 220 x 64 mm (上半部分) / 2.5 kg
                               220 x 220 x 48 mm (下半部分) / 2.8 kg

• Nano Kin™软件的主要特点：
   - 三个层级登录配置文件：管理员、专家、操作员
   - 运行模式：包括测量、模拟、后分析（导入）
   - 直观导航（顺序）
   - 时间切片和动力学模式：独特的技术，允许监测快速动力学和/或准确的再现性测量（时间分辨率高达200毫秒）。
   - 可读数据和绘图：
   - 动态导出数据/绘图（右键单击到剪贴板）
   - 报告文件格式：.pdf或.rtf（兼容writer软件）
   - 反转算法：

  - CUMULANTS 累积量算法：用于具有单分散趋势的单峰样品
   - PADE-LAPLACE算法（专有）：多峰样品的离散数学方法。
   - 稀疏贝叶斯学习算法（SBL；专有）：多峰样品的连续分布数学方法。对于所期望的分布斜率不需要先验知识，正则化参数自学习概率计算模块。

创新点：

VASCO 原位在线纳米粒度分析仪是基于光纤动态光散射（DLS）技术的纳米级悬浮和胶体特性的独特表征仪器。监测纳米颗粒合成，团聚或悬浮体系稳定性研究，帮助您实时分析样品动力学。 独特的“时间切片” 功能允许VASCO KinTM 用户对测试后的数据进行任意时间段内的粒径分析。用户可以获得所选时间尺度的相应的相关图和粒度分布。 稳频激光光源，雪崩光电二极管（APD）探测器；可直接测量亚纳米样品（如蛋白质），无需稀释，测量精度高 。

Vasco Kin原位时间分辨纳米粒度分析仪