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德国 AIM Systems发布德国AIM Systems全自动涂层测厚仪CoatPro新品

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分享: 2020/07/02 16:09:18
导读: 近日,北京东方德菲仪器有限公司在仪器信息网发布德国AIM Systems全自动涂层测厚仪CoatPro新品

德国AIM Systems全自动涂层测厚仪CoatPro

德国AIM Systems公司简介

       德国AIM Systems有限责任公司一家是专注于工业涂布涂覆无损检测技术的光电科技公司。公司集研发、生产、销售与服务为一体,拥有无接触无损涂层检测的国际领先专利技术和产品,可为客户提供定制化的涂层测厚系统解决方案和专属产品。

公司由Stefan Boettger博士在德国萨尔州圣英贝特市创立。公司顺利通过了国际质量管理体系ISO9001认证。

       Boettger博士及其领导的核心技术团队,多年来一直致力于利用光热红外法对涂层无损检测的技术研发和工业应用,具有丰富的工业项目实践经验,曾为众多包括大众、奥迪、戴姆勒、采埃孚、蒂森克虏伯、特瑞堡集团、奥钢联、杜尔集团、ABB等几十家全球知名企业成功地提供过定制化的涂层测厚系统解决方案和产品,获得了用户的广泛认可。

      北京东方德菲仪器有限公司是德国AIM System公司在中国区的指定代理商,作为AIM Systems公司在中国区的授权代理商,东方德菲将继续秉承“Leading by Professional因专业而领先”的理念,与AIM Systems公司一起用我们严谨的产品研发理念、深厚的工业应用经验、精湛的无损检测技术、卓越的产品、和真诚的服务为您的智能制造助力,我们期待与您的合作!


德国AIM System全自动涂层测厚仪CoatPro


      德国AIM System全自动涂层测厚仪CoatPro由德国AIM Systems公司研发生产,采用光热红外法技术原理,可被固定安装在机器臂或其他横动装置上,与电脑及配套测量软件组成实时在线涂层测厚系统,在涂装线上对涂层的湿膜或干膜厚度进行实时无损无接触在线测量,为客户提升涂装质量和优化控制涂装工艺提供重要的检测手段和数据支持。

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一、全自动涂层测厚仪CoatPro基本原理---光热红外探测技术原理

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       待测样品在调制光源的激励下吸收了光辐射的能量,产生红外热辐射即热波,由于待测样品内部的多层结构或者自身缺陷而存在分界面特性的差异,导致红外热波在通过分界面时波形发生变化,不同层状结构厚度以及样品缺陷形貌对热波波形变化有不同的影响,通过探测反射热波形的随时间变化及相对激发光信号的延迟可以分析得到待测样品层状结构以及缺陷形貌尺寸的信息。

20200506-1602575741.jpg

二、CoatPro技术参数:

  • 测量精度:±0.5微米或更优

  • 测量范围:3-300微米

  • 工作距离:100± 30 毫米

  • 距离容差:±50毫米

  • 允许探测角度:±60°

  • 测量时间:1-2秒/点

 

三、CoatPro技术优势:

  • 无损无接触式测量

  • 适用范围广:

       适用于不同材料上的不同涂层的干膜和湿膜厚度测量,  

       可测量的基材材质不限(金属、塑料、橡胶、复合材料等)  

       可测量的涂料种类不限(油漆、粉末涂料、粘胶剂、润滑涂层等)
       可测量的涂装工艺不限

  • 可在曲面、粗糙表面和各种厚度的基底上测量

  • 高精度,通常在±0.5μm或更小

  • LED光源,使用安全,无辐射和激光危害

  • 满足工业防爆安全区要求

  • 可自动生成检测报告和数据统计

  • 可在线实时测量, 适配于涂装机器人

  • 设备维护成本低


四、CoatPro典型应用领域

全自动涂层测厚仪CoatPro的应用领域极其广泛,不受限于涂层的基材材质,也不受限于涂装材料以及涂装工艺,典型应用领域如下:

  • 油漆涂装领域(例如汽车车身漆层、机车车身漆层以及零部件漆层的厚度量)

  • 塑料涂装领域(例如塑料外壳、电路板、汽车内饰/外饰上的涂层厚度测量)

  • 卷材涂装领域(例如钢卷和铝卷表面镀膜厚度的测量)

  • 粉末涂装领域(例如在粉末涂装加热烘烤前对膜厚进行测量)                 

  • 其他涂装领域(例如橡胶或者复合材料上的涂层厚度测量)   

  • 用于实验室检测   


创新点:

1.采用了独特的采用光热红外法技术原理 2.适用范围广:适用于不同材料不同涂层的干、湿膜厚度测量,且基材材质不限、涂料种类不限 3.高精度,通常在?0.5µm或更小 4.LED光源,使用安全,无辐射和激光危害

德国AIM Systems全自动涂层测厚仪CoatPro

[来源:仪器信息网] 未经授权不得转载

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