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课程简介：
日立经典款荧光分光光度计于2019年10月推出全新附件：荧光分布成像系统（EEM VIEW)。它拥有行业首创的技术，同时分析荧光光谱和反射光谱，将样品的光谱信息可视化，同时获得更加细致的光谱信息。
亮点：
1. 在不同光源（白光和单色光）下拍摄样品图像
2. 获得样品的反射光谱和荧光光谱
3. 利用独特的光谱处理算法，获得样品的荧光图像和反射图像
4. 获得样品图像任意区域的光谱信息
课程效果：获悉样品分析新技术，拓展企业或高校研发人员的应用思维。
直播时间：3月10日 15:00-16:00
培训费用：免费
听课方式：日立微学院（提交此表单后扫码进群）
[来源：日立高新技术公司]
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