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优尼康携filmetrics膜厚仪F40首次参加2019BCEIA展会

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分享: 2019/11/05 11:33:44

优尼康携filmetrics膜厚仪F40首次参加2019BCEIA展会

2019年10月23-26日,第十八届北京分析测试学术报告会暨展览会“BCEIA2019”将在北京·国家会议中心隆重开幕,展出国内外500余家参展企业带来的数千项新的产品和技术,如仪器设备、试剂、软件和分析测试服务等;

优尼康也秉着相互交流促进发展的目标首次参加了这次展会。带来展示的为美国Flmetrics公司的膜厚仪F40(见下图)

1572922899924023.jpg

展会现场图

进口膜厚测量仪|profilm3d光学轮廓仪|filmetrics测厚仪|优尼康|粗糙度测量仪|台阶仪|测厚仪|椭偏仪|膜厚仪


优尼康科技有限公司提供的设备包括膜厚测量;表面轮廓测量;薄膜力学性能测量以及减震消磁系统等多个领域,本次参展由于展位空间限制,未能带更多的实物展品加入展出,实在遗憾。


在4天的参展时间内,优尼康和很多用户和经销商进行了成功的交流,也向大家展示和介绍了我们的产品,下一届BCEIA,我们会携更丰富的产品和更好的服务等待大家的到来。



[来源:优尼康科技有限公司]

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