滨松于第二届质谱仪器研发论坛，展现质谱用关键器件最新动向

2019年10月11日-12日，第二届质谱仪器研发论坛在江苏昆山举办，此次会议由中国仪器仪表学会分析仪器分会质谱仪器学术组主办，分析测试百科网协办，昆山禾信质谱技术有限公司承办，国内质谱研发领域资深专家齐聚一堂，共同讨论质谱核心技术的创新开发及应用问题。

滨松携多款最新的质谱探测用关键器件，参加了本次会议。并在会议中发表了《质谱探测新技术，为质谱仪研发带来更多可能》的报告，介绍了滨松40余年在质谱探测技术上的努力，针对质谱仪器的研发，可提供全套的探测方案，产品覆盖微通道板（MCP）、电子倍增器（EM）以及VUV离子化光源、无需基质的辅助离子化基板等，可应用于TOF-MS、Q-MS、IT-MS等质谱仪之中。报告中，滨松中国工程师也重点展示了近年来陆续发布的四款最新产品：高气压下（达1Pa）仍可高增益正常工作的栅网阳极结构MCP、大幅缩短TOF-MS（MALDI）前处理时间的无基质辅助电离基板（DIUTHAME）、复合雪崩二极管结构的MCP、陶瓷通道式电子倍增器（CEM）。从发布到此一年多的时间内，通过实际应用中的验证，新品也得到了进一步的打磨，一系列详细的使用数据，在此次的报告中也首次于国内呈现。

滨松于中国拥有全资子公司，即滨松光子学商贸（中国）有限公司。滨松中国拥有一只独立的本土团队，可快速应想要客户的需求，提供技术支持和产品定制化服务。针对质谱应用，滨松中国亦配备了包括市场、销售、产品技术人员在内的独立项目组，专人负责，以促进滨松的技术最大程度地支持于客户的仪器研发。