为表面分析技术发展共同努力——BCEIA2019表面分析技术应用研讨会成功召开

仪器信息网讯  2019年10月23日，第十八届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA 2019) 学术报告会在北京国家会议中心盛大开幕。10月24日，由北京理化分析测试学会表面分析专业委员会和广东省测试协会表面分析专业委员会联合举办2019年会，以“BCEIA 2019表面分析技术应用研讨会”为主题在国家会议中心E235隆重举行。50余名表面分析技术相关领域的科研及技术人员齐聚一堂，共话表面分析科学及其应用技术的新发展。

大会开幕式由北京理化分析测试学会表面分析技术委员会副理事长姚文清主持，北京理化分析测试学会表面分析技术委员会常务副理事长刘芬、广东省分析测试协会表面分析专业委员会秘书长谢方艳分别致辞。

北京理化分析测试学会表面分析技术委员会副理事长 姚文清

北京理化分析测试学会表面分析技术委员会常务副理事长 刘芬

广东省分析测试协会表面分析专业委员会秘书长 谢方艳

在24日上午的会议上，中国科学院化学所赵耀副研究员、湖南大学Muhammad-Sadeeq Balogun(唐杰)教授、北京泊菲莱科技有限公司刘欢博士、姚文清高工分别带来了精彩的学术分享。

中国科学院化学所 赵耀副研究员

报告题目：In Situ Liquid SIMS and Its Application on Analysis of Liquid Surface and Solid-Liquid Interface

飞行时间二次离子质谱技术（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术。在报告中，赵耀副研究员介绍了飞行时间二次离子质谱及其一些应用，并就他课题组对飞行时间二次离子质谱与电化学联用技术方面的研究作了重点介绍。

湖南大学 Muhammad-Sadeeq Balogun(唐杰)教授

报告题目：Mechanism of Lithium Storage Properties at the Interface of Transition Metal Oxides and Carbon Fiber Hybrids

能源问题一直是各界关注的焦点，电能作为可再生能源将会被人类长期使用，但电能的储存仍是一个难题，锂离子电池以其良好的储电效果一直被广泛关注。湖南大学 Muhammad-Sadeeq Balogun(唐杰)教授的报告分为五个部分，介绍了他从事锂离子电池研究的部分成果。

北京泊菲莱科技有限公司 刘欢博士

报告题目：光催化仪器设备实践与应用

光催化反应是以半导体材料为主的多相反应体系，是光电物理与电化学高度耦合的“光-电-化”转化过程。刘欢博士在报告中介绍了北京泊菲莱科技有限公司Labsolar 6A光催化系统的各项性能，以及他对光催化设备未来发展的一些展望。

清华大学 姚文清高工

报告题目：电子结构调控对光催化性能的影响

环境污染控制是全球关注的焦点，光催化氧化技术治理环境污染具有室温降解、深度矿化、无二次污染等独特的优势。报告中，姚文清高工介绍了通过调控能带结构、内建电场，提高光催化材料光生电荷分离迁移效率，增强降解污染物降解活性，提高可见光利用率。

现场提问互动环节

下午，暨南大学谢伟广教授、中山大学谢方艳高工、PHI(China)Limited高德英特(北京)科技有限公司张伟、北京师范大学吴正龙教授级高工、中国科学院化学所刘芬副研究员、中国科学院大连化学物理研究所盛世善研究员分别进行了精彩报告，获得了在场观众的一致赞扬。

暨南大学谢伟广教授

报告题目：扫描探针显微镜在半导体材料及器件表界面分析中的应用。

扫描探针显微分析技术可实现光电器件测试、表/界面跨尺度空间分辨的原位、实时的结构与光电性质的精确测量，报告中谢伟广教授介绍了该团队利用扫描探针显微分析技术发现钙钛矿等材料的表/界面光子、电子等相互作用机理及规律研究工作。

中山大学谢方艳高工

报告题目：紫外光电子能谱在半导体研究中的应用。

紫外光电子能谱UPS（Ultroviolet Photoelectron Spectrometer）以紫外线为激发光源的光电子能谱。主要用于考察气相原子、分子以及吸附分子的价电子结构。谢方艳高工介绍了利用UPS/XPS技术进行燃料电池、聚合物太阳电池、钙钛矿太阳电池等材料界面电子结构与界面相互作用的机理研究。

PHI(China)Limited高德英特(北京)科技有限公司张伟

报告题目：结合多种表面分析技术的应用。

XPS、AES、TOF-SIMS等表面分析技术在很多领域都有广泛应用，张伟在报告中叙述了几种表面分析技术在半导体材料中的应用。

北京师范大学吴正龙教授级高工

报告题目：电子能谱在薄膜分析中的应用。

吴正龙高工从事XPS研究多年，在报告中，他对使用XPS研究薄膜材料的物理性能及化学性能机理进行了介绍。

中国科学院化学所刘芬副研究员

报告题目：表面化学分析标准化与分析测试。

刘芬副研究员介绍了国际标准化委员会表面化学分析分委员会（ISO/TC201）与全国微束标准化委员会表面分析分委员会（SAC/TC38/SC2）工作程序及工作。

中国科学院大连化学物理研究所盛世善研究员

报告题目：光电子能谱方法--XPS测试中常见问题讨论。

仪器只是分析检测的一小步，得到的数据如何解读是困扰研究人员的一大难题。盛世善研究员的报告针对XPS数据后期处理展开了讨论与分析。

大会合影