TESCAN 受邀参加 “高校分析测试中心研究会第24届年会”！

“第24届高校分析测试中心研究会年会”于2018年7月23-25日，在内蒙古包头市成功举办，本届年会由高校分析测试中心研究会主办，内蒙古科技大学分析测试中心承办。

围绕“新时代下分析测试中心的发展”主题，会议吸引了全国近100所高校分析测试中心共260余位专家学者参会，共同探讨了助力高校分析测试中心建设与发展的前沿技术和方案。

第24届高校分析测试中心研究会年会

TESCAN作为特邀赞助商出席此次会议，并分享了《TESCAN微分析综合解决方案》的精彩报告。

TESCAN是全球领先的电子显微镜、聚焦离子束和光学显微系统供应商，拥有多项独创技术，已成为行业领域的技术创新者和引领者。2018年，TESCAN收购比利时XRE NV公司，进入三维X射线显微成像领域，自此TESCAN能够提供二维、三维、四维的高分辨形貌结构观测、微量轻元素分析和化学结构分析等集多种分析功能于一体的微分析综合解决方案。

在此次高校分析测试年会上，TESCAN中国区市场部经理顾群向参会代表们详细介绍了TESCAN在电子显微学相关领域的技术创新，包括TESCAN最新一代扫描电镜技术、电镜与拉曼光谱一体化技术(SEM-Raman)、聚焦离子束与飞行时间-二次离子质谱一体化技术(FIB-SEM-TOF-SIMS)及其应用研究，引起了参会学者们的极大兴趣。

TESCAN中国市场部经理顾群精彩分享

凭借最新的联用创新技术和TESCAN电镜优秀的扩展分析性能，TESCAN能够给用户提供完善的微观综合分析解决方案，特别适合于高校及研究院的分析测试中心。

本次高校分析测试中心研究会的组织单位内蒙古科技大学分析测试中心就安装有一台TESCAN GAIA3超高分辨型双束电子显微镜（Ga FIB-SEM）；上海交通大学分析测试中心也已购买TESCAN一台钨灯丝、一台高分辨场发射以及二次离子质谱一体化电镜（FIB-SEM-TOF-SIMS），最新的TESCAN RISE拉曼光谱一体化电镜（SEM-Raman）也将于今年上交大的新实验楼投入使用后安装。

安装于内科大分测中心的TESCAN GAIA3 Ga FIB-SEM

会议期间，参会学者们来到TESCAN展台与TESCAN现场工作人员积极互动，探讨交流TESCAN的最新技术及其扩展联用应用解决方案。

TESCAN一直致力于帮助科研人员推动科学研究与进展，我们将继续努力，创新和探索更多前沿应用，提供更优秀的产品和服务。

TESCAN现场工作人员与参会学者交流探讨

“第24届高校分析测试中心研究会年会”参会人员合影