纳米粒度仪
真理光学仪器有限公司首席科学家张福根博士,作为全国颗粒表征与筛分标准化技术委员会委员,参加了于2018年4月5日至6日在英国伦敦举行的ISO/TC24/SC4国际年会。该组织专注于颗粒表征技术相关的国际标准的制定与修订。
会议期间,张博士参与了第6工作组关于颗粒表征—激光衍射法标准13320(2019版)以及第11工作组关于样品制备和标准物质的讨论。张博士详细阐述了颗粒散射光能分布的反常移动及其对粒度分析的影响,分享了真理光学技术团队原创的科学研究和技术创新成果,这也是中国颗粒表征领域的专家第一次在ISO/TC24/SC4国际标准讨论会上就现行标准提出重大意见。
真理光学仪器有限公司专注于颗粒测试技术的开发和仪器的设计生产,拥有完全自主知识产权,是全球为数不多的既有能力从事颗粒表征基础理论研究又能开展应用技术开发的仪器公司,已获得“环形测量池”,“斜置梯形测量窗口”,“微量进样器”“偏振空间滤波技术”等多项专利,并先后推出LT3600系列高速智能激光粒度分析仪,Spraylink实时超高速喷雾粒度分析仪及Nanolink S900纳米粒度分析仪,为广大客户提供从纳米到微米,从固体颗粒到液体雾滴等多种应用领域的粒度测量技术方案。
[来源:珠海真理光学仪器有限公司]
助力江苏先进陶瓷产业高质量发展-真理光学出席2023中国(宜兴)国际陶瓷全产业链展览会
2023.07.24
珠海真理光学成功承办全国颗粒表征与分检及筛网标委会颗粒分会2021年会
2021.12.24
2019.02.01
2018.12.11
真理光学粒度仪新品及应用方案亮相2018全国碳化物技术交流会
2018.09.17
2018.06.26
版权与免责声明:
① 凡本网注明"来源:仪器信息网"的所有作品,版权均属于仪器信息网,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。已获本网授权的作品,应在授权范围内使用,并注明"来源:仪器信息网"。违者本网将追究相关法律责任。
② 本网凡注明"来源:xxx(非本网)"的作品,均转载自其它媒体,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,且不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如其他媒体、网站或个人从本网下载使用,必须保留本网注明的"稿件来源",并自负版权等法律责任。
③ 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起两周内与本网联系,否则视为默认仪器信息网有权转载。
谢谢您的赞赏,您的鼓励是我前进的动力~
打赏失败了~
评论成功+4积分
评论成功,积分获取达到限制
投票成功~
投票失败了~