岛津倾情赞助全国表面分析科学与技术应用学术会议

2017全国表面分析科学与技术应用学术会议日前在汕头大学顺利召开，来自国内外120多位专家和学者参加了本届会议，会议邀请到国内表面分析领域的专家、学者以及德国、西班牙、日本、南非及新加坡的国外专家做大会报告、邀请报告、普通报告及墙报展。业界的表面分析专家、科研单位、各大高校及仪器厂商借此机会进行了广泛交流，探讨表面分析技术与其它学科的共同发展，进一步拓展表面分析技术的应用领域。

国家标委会委员，清华大学分析中心主任朱永法教授致辞

会议以郑州大学韩一帆教授题为“催化剂表面动态结构分析”的报告开始，韩教授介绍了从分子水平上认识催化剂的活性中心组成、结构及演变过程在工业应用中的重要性，他们课题组在SPECS公司的近常压XPS仪器上创新了各种动态现场原位（Operando）系统，研究催化剂在接近于真实反应的变化过程。该仪器的测样品外延处理温度最高可达1000 K（H₂、He气氛下可达到800 K），压力20 bar；若实时检测样品反应温度可达600 K，压力25 mbar。同时韩教授课题组拥有原位拉曼、拉曼-扫描电镜联用、原位XRD、XPS-质谱联用等仪器。

大会报告现场传真

清华大学姚文清高工介绍了PHI公司XPS在俄歇电子谱方面的研究。台湾中央研究院薛景中教授介绍了利用PHI公司PHI 5000 VersaProbe SXM和TOF-SIMS对钙钛矿太阳能电池的结构变化进行研究，主要讲解了C₆₀和Ar₂₅₀₀⁺ 分别对样品进行离子溅射的区别。北京师范大学吴正龙教授介绍了电子能量谱分析中射线束效应；中国计量院王梅玲副研究员介绍了XPS标准物质的研制方法，以上两位老师的工作是在Thermo公司的ESCALAB 250Xi仪器上开展的。

另外，中山大学陈建研究员、南开大学张毅教授、中南大学杜勇教授、西班牙南非自由州大学H. C. Swart教授、新加坡国立大学陈伟教授以及清华大学李展平高工等专家做了关于利用多种表面分析仪器开展科研工作的相关报告，其中包括原子力显微镜、表面增强拉曼，辉光放电发射光谱、红外显微成像、TOF-SIMS、SEM和TEM等。中科院苏州纳米所丁孙安研究员课题组介绍了超高真空互联系统。

岛津企业管理（中国）有限公司作为主要赞助商之一参加了此次会议，由大型分析仪器事业部营业部部长孙明先生、分析测试市场部经理洪波博士、分析计测市场部XPS产品经理龚沿东研究员，宋玉婷博士、分析中心的崔园园博士等参加了本次大会。岛津公司在会场外设置了展台，展示了岛津在表面分析方面的产品，包括：AXIS Supra, EPMA-8050G,SPM-8000等岛津最先进的表面分析产品；岛津公司分析计测市场部XPS专家龚沿东研究员做了题为《XPS深度剖析：从超薄到超厚》的会议报告，首先介绍了岛津AXIS Supra产品的“从图得谱”功能，这种技术可以将成谱的空间分辨率降低到成像的空间分辨率，在进行深度剖析时可以进行成像。详细说明了AXIS Supra产品配有的高能单色化Ag靶的特点和应用实例，利用高能单色化Ag靶能够获得更宽的能量范围和更深的信息。进一步介绍了多模式Ar原子团簇离子枪具有避免氧化物还原的特点和实例。会议报告后，AXIS Supra产品引起了广泛关注，参会者积极提问。

岛津公司龚沿东研究员做大会报告

通过参与本次会议，岛津公司充分展示了在表面分析领域的技术实力，进一步加深了大学科研行业对岛津表面分析产品的了解，提高了产品的知名度。

岛津公司展台传真

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