新品丨泰思肯（TESCAN）FIB-SEM新品S8000G亮相曼彻斯特MMC 2017展会！

2017年7月，TESCAN发布了一款FIB-SEM新品S8000G超高分辨双束FIB扫描电镜系统，S8000G是TESCAN S8000系列扫描电镜的第一个新成员，搭载了TESCAN最新研发的多项创新技术，可以提供无与伦比的图像质量、可完成复杂的纳米操作并保证极佳的精度和操作灵活性，能够满足现今工业研发和学术研究的所有需求。

TESCAN FIB-SEM新品S8000G

近日，TESCAN UK携新产品S8000G参加了在英国曼彻斯特开幕的MMC2017 (The Microscience Microscopy Congress 2017) 展览会，MMC展会由皇家显微学会和物理研究所的电子显微分析中心共同举办，可追溯到20世纪60年代，具有非常悠久的展览历史。此次S8000G在展览会上的首次亮相吸引了众多眼球，TESCAN的品牌和联用创新技术也引起了参会观众的极大兴趣。

TESCAN新品S8000G引起广泛关注

TESCAN的研发和应用团队也出席了此次展览会，与参会观众热烈交流。同期，TESCAN官网的S8000G网页访问量和点击量都非常巨大，受到了全球各国的关注。

TESCAN工程师与参会观众热烈交流

S8000G超高分辨FIB-SEM系统主要特点：

• 最新的BrightBeam™SEM镜筒，专利的70°静电-电磁物镜，使系统拥有更加出色的低电压分辨率

• 无漏磁物镜，可以最大化的实现各种分析，包括磁性样品的分析等

• 最新的探测器系统，可选择不同角度和不同能量收集信号电子，拥有更好的表面形貌灵敏度和对比度

• 创新的 Orage™ Ga FIB镜筒，可适用于各类具有挑战性的纳米工程任务

• 拥有绝佳的离子分辨率（可达2.5nm @ 30keV）以及SmartMill级别的高速切割能力，FIB束流最大可达100nA

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