安东帕中国携全新纳米颗粒及Zeta电位分析仪亮相上海CPhI

　　第十六届世界制药原料中国展(CPhI China 2016)于2016年6月21至23日在上海新国际博览中心拉开帷幕。展会期间，安东帕中国不仅展出了旋光仪、折光仪、密度计、微量粘度计、流变仪、微波样品制备系统等传统的拳头产品，也将Litesizer^TM500纳米颗粒及Zeta电位分析仪这个全新产品带到广大制药领域用户面前。

　　Litesizer^TM500纳米颗粒及Zeta电位分析仪

　　2016年，安东帕Litesizer^TM500纳米颗粒及Zeta电位分析仪全新上市。这是一款用于表征溶液中分散的纳米颗粒以及亚微米颗粒的仪器。它可通过测量动态光散射(DLS)、电泳光散射(ELS)和静态光散射(SLS)来测定颗粒尺寸、zeta 电位和分子量。它采用了先进算法及尖端zeta电位测量专利技术：可连续测量透光率以选择最佳样品测试参数; 静态光散射(SLS)测量分子量，快速无损;采用DLS颗粒分析法，可轻松解决在单一悬浮液中不同颗粒尺寸的测量问题;采用新型专利(欧洲专利 2735 870)cmPALS技术，zeta电位测量的准确性达到最高，所需时间降到最少;而且其一页式的工作流程，大大减轻了实验室负担。另外，Litesizer^TM500的一大亮点是其简单而巧妙的软件。安东帕已创建了可将输入参数、结果和分析集中到单个页面上的一页式工作流程：用户可以在数秒内完成试验设置，只需简单按键即可得出所需的分析结果和报告。

　　这款全新产品可广泛应用于制药、化工、材料及食品各行业内实验室质量控制、质量控制部门以及其他粒度分析领域。

　　展会同期，安东帕还在Innolab的主题活动上举办了Litesizer^TM500纳米颗粒及Zeta电位分析仪的产品宣讲会，为大家呈现了激光粒度仪的用途、优势、参数以及应用。

　　宣讲会现场

　　自2006年起的十年来，安东帕中国致力于为中国制药行业的用户量身定制高质量的产品及服务，以确保药品的质量和可追溯性。上海CPhI展会期间，安东帕提供了全面的药物分析解决方案及组合方案，吸引众多用户参观。

　　安东帕展位

　　安东帕参展团队