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3月8日，日立高新技术集团在原有的AFM系列原子力显微镜产品线的基础上，在全球重磅推出了AFM5500M型新一代原子力显微镜。这也是日立高新收购精工纳米科技以来，又一款以技术整合来提供更全面解决方案的代表性产品。
该产品和原来的型号相比，新增了自动探针更换和自动光轴调整功能，扫描器和传感器以及图像化部采用了新技术，因此更加提高了测定精度和自动化程度。此外，该产品还能和日立高新的经典产品扫描电镜通过共享坐标的方式，实现观察样品的同样位置的功能，为广大用户提供了更全面的解决方案。
AFM5500M 原子力显微镜
新研发的扫描仪和低噪声三维传感器可以实现高的测量准确性。自动悬臂加载和激光准直功能进一步增强其易用性。AFM5500M不仅吸引了纳米尺度基础研究的人员，而且还解决了工业仪表领域的需求。
SPM利用探针扫描样品表面，同时执行形貌以及其他材料特性的纳米尺度的测量。鉴于电子设备、先进性能材料和精密组件开发、生产和质控等方面的发展，近年来对高分辨率SPM的需求显著提高。相比之下，由于扫描参数优化等技术的限制，传统SPM需要高度熟练的操作者，而AFM5500M仅需一次点击就可以进行悬臂的改变，并开始测量。
[来源：仪器信息网译] 未经授权不得转载
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