2013年5月8日,高德英特携ULVAC-PHI部分中国用户成功举办了第一次网络研讨会。此次研讨会主要讨论如何在XPS分析中,充分利用PHI在X-Ray独特的聚焦扫描设计,有效行使从大面积分析到微区分析功能,并演示了如何利用仪器的自动化设计,完成自动队列分析。
此次共有15位国内新老用户参与讨论,高德英特将以这种形式持续开展此类技术研讨会,旨在:
1. 使新用户能够在此平台,与同行及高德英特甚至原厂的工程师进行交流,更容易掌握如何操作XPS获得有效数据以及对数据进行科学处理。
2. 为资深用户提供交流平台,用户之间可就仪器操作、数据处理、仪器维护等展开深层次讨论。
3. 为想了解XPS的工作人员提供科普平台,传播表面分析概念,甚至PHI独特聚焦扫面X-Ray设计可以为其科研工作提供研究思路。
高德英特为了能够持续开展此类讨论会,充分了解客户需求,讨论会在结束前会收集客户反馈信息。从第一次讨论会反馈信息得出未来讨论方向为:
1. 如何调节分析参数,获得有效数据。
2. 从真实样品采集数据后,如何进行数据处理,并结合结果进行讨论。
3. 常见系统问题处理及简单仪器维护。
我们期待通过这种形式的讨论会,能够简单方便的为使用者及潜在用户搭建交流平台,传递表面分析知识及最新技术进展,实现共赢。
如果您对此次会议的内容感兴趣,可通过以下邮箱索取会议视频资料:
[来源:高德英特(北京)科技有限公司]
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