春风送别银蛇岁,瑞气迎来金马年。满欢喜月辞别旧岁,迎接2014年新曙光之际,彼奥德会更加努力带领国产比表面积仪、真密度仪、化学吸附仪向更高水平发展,提高国产仪器产品质量。2013年,对彼奥德来说是个丰收年:
1、取得比表面积分析仪创新专利2项:“压力探测技术”、“液氮添加系统”
2、取得国内唯一真密度分析仪“全恒温系统技术专利”
3、取得低温物理吸附仪的开发、生产及服务质量管理体系认证
4、比表面积分析仪获得中国计量院认证证书
5、荣誉成为“中国分析测试协会”、“中国颗粒学会”会员
[来源:北京彼奥德电子技术有限公司]
2019.07.12
2019.07.09
国产仪器“创新100”企业报道第55站—北京彼奥德电子技术有限公司
2019.04.26
彼奥德技术总监杨正红先生作为中国代表团出席第56届ISO/TC24/SC4国际标准化会议
2019.04.26
2018.04.25
2014.04.01
版权与免责声明:
① 凡本网注明"来源:仪器信息网"的所有作品,版权均属于仪器信息网,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。已获本网授权的作品,应在授权范围内使用,并注明"来源:仪器信息网"。违者本网将追究相关法律责任。
② 本网凡注明"来源:xxx(非本网)"的作品,均转载自其它媒体,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,且不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如其他媒体、网站或个人从本网下载使用,必须保留本网注明的"稿件来源",并自负版权等法律责任。
③ 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起两周内与本网联系,否则视为默认仪器信息网有权转载。
谢谢您的赞赏,您的鼓励是我前进的动力~
打赏失败了~
评论成功+4积分
评论成功,积分获取达到限制
投票成功~
投票失败了~