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梅特勒托利多应邀参加2012中国光伏技术大会

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分享： 2012/05/03 18:41:27
 
       2012中国国际光伏技术大会（CPTIC 2012）于2012年3月21-22日在上海嘉里酒店举行，800多位海内外行业专家应邀参加了此次大会。大会下设了硅材料制备技术、晶硅生长与硅片加工技术、晶硅光伏电池技术、薄膜光伏电池制造及可靠性技术、新兴光伏技术、光伏系统实施与并网技术、光伏市场与政策分析等分会，并就这些专题在现场进行了热烈而深入的探讨。
 
梅特勒托利多热分析部经理陆立明先生受邀作为演讲嘉宾参加了中国国际光伏技术大会，在电子与光伏晶硅材料分会上，陆立明经理以“EVA交联度测定和交联反应动力学的热分析方法”为题，就EVA共聚物与太阳能电池板封及EVA交联度测定的DSC方法等问题，与现场观众交换了各自意见。
      
       梅特勒托利多的热分析仪是光伏技术发展和质量控制的理想帮手，热分析系统DSC、TGA被广泛用于测量EVA固化度、醋酸乙烯含量等的分析。EVA固化不足可直接导致光伏组件在其近20年的使用中性能恶化，这将意味着重大的经济风险。因此为实现经济有效的层压，快速可靠的EVA固化度分析方法至关重要。应用梅特勒托利多公司的差示扫描量热仪和非模型动力学软件(MFK)可对EVA固化反应过程进行测试和研究，从而可优化固化过程和预测EVA膜的使用寿命。差示扫描量热仪(DSC)是目前较为可靠的分析方法。
 
更多信息，请登录梅特勒托利多公司网站： www.mt.com
 



[来源：梅特勒-托利多中国]

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