德国RETSCH（莱驰）参加全国颗粒学术会议

德国RETSCH（莱驰）参加全国颗粒学术会议报道 

2008年6月18日，第七届全国颗粒测试学术会议暨2008年上海市颗粒学会年会在风景秀丽的湖南张家界隆重召开，来自全国各高校、质检机构、石化、研究所、标准协会、粒度仪制造厂家等一百多位专家、学者出席了此次盛会，德国RETSCH（莱驰）公司作为会员单位，也很荣幸地参与此次大会。

大会由珠海欧美克科技有限公司张福根博士和济南微纳颗粒技术有限公司任中京教授两位国内粒度分析资深专家主持，钢铁研究总院胡荣泽教授和上海市颗粒学会理事长蔡小舒教授分别致辞，他们指出，举办此学会会议的目的在于加强行业内和行业间的横向交流，推动粒度测试技术的发展和标准化，加强仪器制造厂家（尤其是进口仪器）和国内用户的沟通，加强科研院校与企事业单位的沟通，加快分析方法的研究和标准化的制定。随后，来自上海理工大学、华东理工大学、中山大学、同济大学、中南大学等十几位学者分别做了精彩的报告，会议的学术气氛非常浓厚。 

会议期间，许多粒度仪供应商均借此机会宣传了其最新的产品和技术，RETSCH也和一些专家学者进行了交流，大家对RETSCH的粉碎研磨筛分设备表示了肯定和极大的兴趣，比如行星式球磨仪PM系列、混合球磨仪MM400、筛分仪AS200、击打式筛分仪AS200tap、自动分样仪PT100等。在谈到粒度分析技术时，专家们都肯定了激光粒度仪作为粒度测量的主流技术，应该还能在中国保持持续的增长，但是未来几年，用户对颗粒形态方面的研究也会越来越多，尤其是动态的粒径形态分析以及对非规则颗粒的形态表征。此外，粒度分析的取样代表性和测试重现性也会更多的引起关注和重视。

此次会议对RETSCH公司而言，是一次非常好的体验和交流，RETSCH公司的多功能粒径分析仪Camsizer正是一台以粒形分析为主的测试仪器，它采用了双镜头的专利设计，测量范围广，对于大颗粒也能进行测量，进样量大，具有代表性，可分析粒度大小、个数、分布、球形度、对称性、密度、表面积等综合信息，并实时保存图像，对非规则颗粒，有着更为正确的粒径表征。不同于激光粒度仪，它无需输入折射率；不同于筛分仪，它更省时省力；不同于显微图像法，它表征的是颗粒各个方向上的动态数据，因此Camsizer特别适用于催化剂、聚合物、玻璃准、标准物、食品、饲料、岩矿、地质等行业的应用。
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德国莱驰―――精于工，卓于质！