2006年4月17日,JEOL Ltd.总裁Yoshiyasu Harada宣布,日本电子在全世界同步推出最新型号的300kV场发射透射电子显微镜——JEM-3100F。
JEM-3100F分辨率达到0.17nm(300kV,UHR),是同档次世界上最先进的透射电子显微镜,尤其在纳米材料测试方面,具有非常高的效能。它的控制系统采用了最新的数字技术,使得操作更为简便。该款产品同样适合于过程测试,可以对由聚焦离子束切割的相对较厚的半导体器件进行高通量检测。
[来源:日本电子]
版权与免责声明:
① 凡本网注明"来源:仪器信息网"的所有作品,版权均属于仪器信息网,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。已获本网授权的作品,应在授权范围内使用,并注明"来源:仪器信息网"。违者本网将追究相关法律责任。
② 本网凡注明"来源:xxx(非本网)"的作品,均转载自其它媒体,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,且不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如其他媒体、网站或个人从本网下载使用,必须保留本网注明的"稿件来源",并自负版权等法律责任。
③ 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起两周内与本网联系,否则视为默认仪器信息网有权转载。
谢谢您的赞赏,您的鼓励是我前进的动力~
打赏失败了~
评论成功+4积分
评论成功,积分获取达到限制
投票成功~
投票失败了~