保圣科技TA.XTC质构仪测试饼干的硬度和脆裂性

首先将两个支撑点调整到合适的位置，以便支撑样品的长度，例如30mm。为了对比的目的，该位置应该记录下来。然后将其安装到承重平台上。将承重平台安装到主机上并调整，直到上刀具对准中心位置，旋紧承重平台。样品从包装袋中取出，选择所需测试指标（最大正力和正面积），准备进行实验。

TA.XTC质构仪配有三点弯曲探头(HDP/3PB)，用TA.XTC质构仪测试饼干的硬度和脆裂性的原理是一旦TA.XTC质构仪探头的感应力达到，曲线开始表达出样品被探头下压过程的效果。曲线最大压力数值可以表达样品的破裂强度。其他可表明的数字还有：破裂距离和斜率。破裂距离表明样品的脆性，显示样品能抗多长距离后被破坏。斜率表明样品的硬度，斜率越高，硬度越大。

之后是分析曲线最大正峰值与正面积：

1种样品，进行20次重复的分析结果(+/-SD.)（不合适数据需剔除），其硬度的最大正峰值是458.3 ± 52.6，其脆性的正面积是0.38 ± 0.05。

在用TA.XTC质构仪测试饼干的硬度和脆裂性时应该注意的是：为了实验数据可以对比，必须确保样品的尺寸和支撑点的距离。样品如果比较宽，要求的破裂力也比较大。

另外，储存、包装和处理样品的条件的变化，都会影响实验结果。这些条件应该是确定的保持连续的。

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