280Z GFAA 塞曼石墨炉原子吸收光谱仪

旧电子电器的数量迅速增加，由此需要对旧设备进行安全处置。欧共体已经颁布了法规，对材料生产中使用的有毒金属和有机化学品的含量进行限制。遵守法规将有助于避免在设备回收或负责处置时对后人造成危害。在 电子电气设备制造中，法规要求对这些材料进行测量和限制。 可采用多种分析仪器技术来测定这些有害物质。例如，可通过 AA、ICP-OES 或 ICP-MS 测定重金属 Cd、Pb、Hg 和 Cr 。可通过紫外 - 可见分光光度计测定六价铬，并可通过 GC 和 GC-MS 测定 PCB 和 PBDE。另一方面， 也可以利用 XRF 筛查重金属和总溴。本文对用于通过原子吸收光谱法测 定塑料中 Cd、Pb、Hg 和 Cr 的各种样品前处理方法进行了评估。 在编号 40 的瓦里安 ICP-OES 应用简报中，Tran Nahm 报道了使用 ICP-OES 仪器测定塑料中的重金属。本文报道了使用相同的分析样品前处理过程，通过原子吸收和塞曼石墨炉对塑料中的 Cd、Cr、Pb 和 Hg 进行测量。

常见的重金属检测方法主要有比色法、原子吸收光谱法以及电感耦合等离子体发射光谱法。2011 年，国家质量监督检验检疫总局颁布实施《合成材料跑道面层》(GB/T14833-2011)国家标准，其中，可溶性重金属铅、镉、铬的测定推荐采用 GB/T9758.1-1988、GB/T9758.4-1988、GB/T9758.6-1988 进行检测，标准中推荐的方法均为原子吸收光谱法以及化学法，但通常这两种分析方法耗时较长，操作繁琐，但本文所采用的是快速多元素 (FS) 原子吸收光谱法，该方法的优势在于既符合国家标准要求又能提高实际样品的分析效率，可以同时检测塑胶跑道中的多种可溶性重金属（Pb、Cd、Cr），并且灵敏度高、干扰少、精密度好。

旧电子电器的数量迅速增加，由此需要对旧设备进行安全处置。欧共体已经颁布了法规，对材料生产中使用的有毒金属和有机化学品的含量进行限制。遵守法规将有助于避免在设备回收或负责处置时对后人造成危害。在电子电气设备制造中，法规要求对这些材料进行测量和限制。 可采用多种分析仪器技术来测定这些有害物质。例如，可通过 AA、ICP-OES 或 ICP-MS 测定重金属 Cd、Pb、Hg 和 Cr [1-2]。可通过紫外- 可见分光光度计测定六价铬 [3-4]，并可通过 GC [5] 和 GC-MS [6-7] 测定 PCB 和 PBDE。另一方面，也可以利用 XRF 筛查重金属和总溴 [1,8]。本文对用于通过原子吸收光谱法测定塑料中 Cd、Pb、Hg 和 Cr 的各种样品前处理方法进行了评估。 在编号 40 的瓦里安 ICP-OES 应用简报中，Tran Nahm [9] 报道了使用 ICP-OES 仪器测定塑料中的重金属。本文报道了使用相同的分析样品前处理过程，通过原子吸收和塞曼石墨炉对塑料中的 Cd、Cr、Pb 和 Hg 进行测量。

旧电子电器的数量迅速增加，由此需要对旧设备进行安全处置。欧共体已经颁布了法规，对材料生产中使用的有毒金属和有机化学品的含量进行限制。遵守法规将有助于避免在设备回收或负责处置时对后人造成危害。在电子电气设备制造中，法规要求对这些材料进行测量和限制。 可采用多种分析仪器技术来测定这些有害物质。例如，可通过 AA、ICP-OES 或 ICP-MS 测定重金属 Cd、Pb、Hg 和 Cr [1-2]。可通过紫外- 可见分光光度计测定六价铬 [3-4]，并可通过 GC [5] 和 GC-MS [6-7] 测定 PCB 和 PBDE。另一方面，也可以利用 XRF 筛查重金属和总溴 [1,8]。本文对用于通过原子吸收光谱法测定塑料中 Cd、Pb、Hg 和 Cr 的各种样品前处理方法进行了评估。 在编号 40 的瓦里安 ICP-OES 应用简报中，Tran Nahm [9] 报道了使用 ICP-OES 仪器测定塑料中的重金属。本文报道了使用相同的分析样品前处理过程，通过原子吸收和塞曼石墨炉对塑料中的 Cd、Cr、Pb 和 Hg 进行测量。

旧电子电器的数量迅速增加，由此需要对旧设备进行安全处置。欧共体已经颁布了法规，对材料生产中使用的有毒金属和有机化学品的含量进行限制。遵守法规将有助于避免在设备回收或负责处置时对后人造成危害。在电子电气设备制造中，法规要求对这些材料进行测量和限制。 可采用多种分析仪器技术来测定这些有害物质。例如，可通过 AA、ICP-OES 或 ICP-MS 测定重金属 Cd、Pb、Hg 和 Cr [1-2]。可通过紫外- 可见分光光度计测定六价铬 [3-4]，并可通过 GC [5] 和 GC-MS [6-7] 测定 PCB 和 PBDE。另一方面，也可以利用 XRF 筛查重金属和总溴 [1,8]。本文对用于通过原子吸收光谱法测定塑料中 Cd、Pb、Hg 和 Cr 的各种样品前处理方法进行了评估。 在编号 40 的瓦里安 ICP-OES 应用简报中，Tran Nahm [9] 报道了使用 ICP-OES 仪器测定塑料中的重金属。本文报道了使用相同的分析样品前处理过程，通过原子吸收和塞曼石墨炉对塑料中的 Cd、Cr、Pb 和 Hg 进行测量。

旧电子电器的数量迅速增加，由此需要对旧设备进行安全处置。欧共体已经颁布了法规，对材料生产中使用的有毒金属和有机化学品的含量进行限制。遵守法规将有助于避免在设备回收或负责处置时对后人造成危害。在电子电气设备制造中，法规要求对这些材料进行测量和限制。 可采用多种分析仪器技术来测定这些有害物质。例如，可通过 AA、ICP-OES 或 ICP-MS 测定重金属 Cd、Pb、Hg 和 Cr [1-2]。可通过紫外- 可见分光光度计测定六价铬 [3-4]，并可通过 GC [5] 和 GC-MS [6-7] 测定 PCB 和 PBDE。另一方面，也可以利用 XRF 筛查重金属和总溴 [1,8]。本文对用于通过原子吸收光谱法测定塑料中 Cd、Pb、Hg 和 Cr 的各种样品前处理方法进行了评估。 在编号 40 的瓦里安 ICP-OES 应用简报中，Tran Nahm [9] 报道了使用 ICP-OES 仪器测定塑料中的重金属。本文报道了使用相同的分析样品前处理过程，通过原子吸收和塞曼石墨炉对塑料中的 Cd、Cr、Pb 和 Hg 进行测量。

该应用成功表明，使用 280Z 石墨炉原子吸收光谱仪可同时完成对微量 Pb 和 Cr 的分析。各组分进样量最低可达 1 μL，线性关系良好，相关系数 R2 不小于 0.999。该方法可在 3 min 内完成对一种元素的检测，适合于一般实验室日常监测工作。使用 SRM 向导和 Tube-Cam 功能开发的最佳分析条件，为分析过程中提供了最佳的干燥、灰化和原子化温度，以及改性剂和进样量，消除了干扰，获得了最佳灵敏度、高准确度和重现性。由于超强的基体干扰消除效果，该 280Z 石墨炉仪器是分析复杂基体土壤中铅和铬的最佳选择。为打好我国土壤污染防治战役、切实推进土壤治理修复工作提供了可靠的监测技术保障工作。同时也清楚地表明了 Agilent 280Z 石墨炉原子吸收光谱仪分析痕量级重金属的强大能力。

本文介绍了采用配备特有的 O-mega 一体平台石墨管的安捷伦石墨炉原子吸收光谱仪快速测定建筑用地和农耕用地土壤中 Pb 元素的方法。在样品测试序列中，每隔 20 个样品监测一次试剂空白、土壤质控样和实验室连续验证校正溶液，以验证样品测定数据的准确度和可靠性，并对该方法长期稳定性进行了验证。连续运行一百多个土壤样品，所得到的土壤质控样的回收率为 101%–105%，实验室连续验证校正溶液的回收率为 104%–115%，有助于样品通量大的实验室提高效率，并同时保证分析结果的有效性和可靠性。

本文介绍了采用配备特有的 O-mega 一体平台石墨管的安捷伦石墨炉原子吸收光谱仪快速测定建筑用地和农耕用地土壤中 Cd 元素的方法。利用该方法检测 6 份同批次消解的土壤分析分析标准物质 GSS24，所得到的回收率为 92.3%–103.9%，平均回收率为 98.7%；6 份样品溶液检测结果的 RSD 为 4.7%；同时采用该方法检测多种土壤成分分析标准物质的快速半消解溶液，所得到的测试值和标准值吻合良好。本应用所提供的检测方案完全满足对土壤中 Cd 元素进行快速检测的要求。

安捷伦科技是化学分析仪器领域的领导者。从 20 世纪 60 年代推出世界上第一台原子吸收光谱仪开始，安捷伦在原子吸收分析领域的研发从未停止脚步。今天，拥有多项专利的安捷伦原子吸收光谱仪更是在各行各业为客户提供了丰富的元素分析解决方案。 客户在使用原子吸收产品的过程中，可能会遇到多元素测试耗时长、复杂基体测试准确度差，数据不稳定等问题。本文通过典型应用实例，帮助您了解各个行业在面对各种复杂基质、分析难点时，安捷伦原子吸收的解决之道。

配备 Omega 平台石墨管的 Agilent 280Z AA 为根据 GB 2762-2017 定量分析酱油中的 Pb 提供了高灵敏度、准确度和精密度。SRM 向导可确保找出最佳的灰化和原子化温度，从而得到可获得最大吸收的稳定方法。方法稳定性经过了四个不同实验室的验证，结果表明该方法超出了 GB 2762:2017 对酱油中Pb 的要求。 Agilent 280Z 在如此复杂的基质中实现了优异的分析精密度和准确度，非常适合需要高灵敏度和高性价比仪器的实验室。

安捷伦推荐对粮食样品采用快速消解和悬浮进样的检测方法，样品只需经过简单处理，即可将悬浮液直接进样，大大提高了分析效率。安捷伦石墨炉原子吸收系 统配备独特的带恒温区 (CTZ) 设计的纵向加热石墨炉，可保证悬浮样品直接进样分析的结果准确可靠。

安捷伦石墨炉原子吸收系统采用横向塞曼扣除背景技术。其独特的带有恒温区 (CTZ) 设计的纵向加热石墨炉在石墨管中心获得恒温区，可实现卓越的加热均匀性。采用横向交流调制塞曼扣除背景，在整个原子化器中施加磁场，可准确扣除复杂样品造成的背景吸收，获得准确的测定结果。采用安捷伦石墨炉自动进样器 PSD120，只需配制一个浓度的标准溶液，即可自动稀释、自动完成标准曲线的绘制，并可对超出曲线范围的样品进行自动稀释。 此外，石墨炉降温速度快、进样器的工作流程设计非常人性化。在石墨炉降温时，同时进行下一个样品吸取、稀释等工作，样品间等待时间仅需数秒，大大提高了样品通量。

安捷伦纵向加热石墨炉系统，精密的内外保护气体控制，以及耐用的石墨管具有最长的使用寿命。独特的恒温区 (CTZ) 设计，以及精确的石墨炉温度控制，使石墨炉检测在复杂基体下依然获得稳定的测试数据。

对于确保产品可适合消费用途，食品中的痕量元素分析十分必要。对于谷物产品（如小麦和大米）等需要定期食用的食品，对其中低浓度金属元素的准确定量尤为重要。而对 Pb、Cd、Cr 和 Ni 等元素的分析对于确保产品质 量至关重要。 需要进行痕量分析时要采用高灵敏度技术，例如采用塞曼背景校正技术的 石墨炉原子吸收光谱 (GFAAS)。 采用塞曼背景校正技术的 GFAAS 具有高灵敏度、低运行成本和对复杂背景 的准确校正等特征，适用于检测谷物中的痕量 Pb、Cd、Cr 和 Ni。 四种国家标准方法中规定了采用 GFAAS 检测多种食品中 Pb、Cd、Cr 和 Ni 的有关流程。

该应用成功表明使用体积分数为 1% 的硝酸溶液作为血液的稀释剂，以磷酸二氢铵为基体改性剂，通过选择最佳条件，优化了原子吸收光谱法直接进样测定血液中铅的方法，方法简便、结果准确。仪器自带的塞曼扣背景功能效果较强，且在测定微量铅时，测量结果的 RSD 值仍然可以稳定在 1%–3% 之间，仪器性能稳定，是分析生物材料中痕量金属元素的理想选择。

随着石墨炉原子吸收光谱技术 (GF-AAS) 的发展，石墨管与仪器平台 也在不断发展。早期石墨管采用未涂覆的石墨，寿命短、存在记忆效 应且灵敏度低。热解涂层管的开发提高了石墨管的抗氧化性。经过涂 覆的石墨管具有优异的寿命、分析物灵敏度和精密度。 石墨管设计的新一项进步是引入了石墨平台（“L'vov 平台”），将样品注入到该平台上进行原子化。平台的使用将原子化延迟至气体环境相对于管壁达到稳定温度时。这避免了气相分析物的冷凝和重组。