精彩回顾丨2021全国表面分析方法及新材料表征研讨会圆满召开

开幕伊始，中科院长春应化所副所长逯乐慧、以及赛默飞材料与结构分析业务高级商务总监陈厅行，分别为本次大会发表了开幕致辞。

* 中科院长春应化所副所长逯乐慧致辞

* 赛默飞材料与结构分析业务高级商务总监陈厅行致辞

本次大会的第一个报告，我们有幸邀请到了来自清华大学的李景虹院士，通过线上的形式给我们带来主题为“标准助推创新发展 标准引领时代进步”的大会报告。李院士为我们介绍了中国标准化工作概况、中国标准化发展历程与成效，并着重分享了在现今疫情之下，质量标准化的新思考，随后展望了中国分析测试技术标准的远大发展前景。

赛默飞表面分析全球市场发展总监Richard G. White在题为“Upholding Surface Analysis excellence with the introduction of the Nexsa G2 XPS”的报告中，为大会进行新品介绍。Richard表示：当今表面和界面分析充满了挑战，需要一款仪器能够为后续的研发改进提供可靠的结果。Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 表面分析系统是一款高性能 X 射线光电子能谱仪，在保证数据质量和样品测试通量的同时，还可集成多种其他分析技术。

会议首日随后的报告环节，数十位专家继续分享见解、凝聚共识，为现场观众带来了一场高质量思想盛宴。

会议第二日的报告环节，专家们继续就当前表面分析的热点、焦点问题进一步进行广泛而深入的探讨。