波长色散型X射线荧光光谱仪

定性半定量分析是XRF的基本要求，结合分析者对样品的了解和分析方法的掌握，可以很好的对玻璃样品进行定性定量分析。在法庭科学玻璃物证中的分析可以很好的利用XRF相关仪器。 本文以分析实例对“中华人民共和国公共安全行业标准GA/T 1417-2017”标准进行应对解析，说明岛津XRF仪器完全可以满足该标准的要求。

岛津XRF-1800时一款弹道扫描仪器，具有灵巧方便的功能，结合客户的要求进行科研实验及一发性分析非常方便。12位晶体交换装置、五种滤光片可选

本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。

岛津公司作为综合性的仪器生产商，具有较为完整的产品链，可以为催化材料的结构表征以及催化性能测试提供综合的解决方案。XPS以光电效应为基础，致力于材料表面和界面的元素状态分析，可以给出元素成分的半定量信息并通过化学位移给出元素化学状态信息，采用多模式氩离子刻蚀技术可以对催化剂表面进行清洁处理，且可以提供沿深度的二维元素分布信息；扫描探针显微镜（SPM）可以查看纳米尺度上的催化剂样品形貌以及片层材料厚度，在碳纳米管、石墨烯等材料中应用广泛；电子探针显微分析仪（EPMA）以聚焦电子束为探针，可以提供纳米尺度上的催化剂形貌像和微米尺度上相关元素分布信息，和SEM-EDS相比，EPMA 具有更高的分辨率的元素信息，在催化材料的开发领域尤其是汽车尾气催化剂研究方面有着重要的作用；其他如ICP、XRF、EDX可用于催化剂材料组分的检测、色谱—质谱技术可用于催化反应原料及产物的检测、FTIR用于表面有机基团的检测、DSC可用于催化剂表面积碳行为等研究。此外，岛津公司可以根据您的分析需求提供定制化的系统气相产品，针对二氧化碳光、电、热催化还原系统，可实现H2、O2、N2、CH4、CO等气体以及水中甲酸、甲醛、甲醇、乙醇、丙酮等液体的分析；针对费托合成、合成气转化、甲烷转化等催化反应，可实现无人值守采样取样进样分析，高沸点样品的在线分析。

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铝及铝合金的性质概括起来主要有以下几个方面：?比重小、导电性好、导热性好、强度高、可塑性好、抗腐蚀性强。变形铝及铝合金牌号众多，共计约130个牌号；铸造铝及铝合金约30个牌号。按照YST860-2020《铝及铝合金中化学元素的分析方法 X射线荧光光谱法》的要求，我们展开实验。经过实验得出，X射线荧光光谱法可以很好的测试和覆盖Al、Cu、Si、Mg、Mn、Zn、Cr、Ni、Ti、Pb、Sn、Ga、Zr等元素的分析，测试精度良好，准确度可以达到标准的要求。

熔融制样X荧光光谱法分析保护渣，方法快速稳定，准确度满足化学分析允许误差。保护渣经灼烧除碳后可以与荧光熔融法专用熔剂高温熔融制备成玻璃片，可以用荧光光谱仪准确测定其中的主量元素。采用熔融法可以配制任意浓度的标准样品，解决了标样不足的问题。

熔融制样X荧光光谱法分析保护渣，方法快速稳定，准确度满足化学分析允许误差。保护渣经灼烧除碳后可以与荧光熔融法专用熔剂高温熔融制备成玻璃片，可以用荧光光谱仪准确测定其中的主量元素。采用熔融法可以配制任意浓度的标准样品，解决了标样不足的问题

岛津XRF-1800时一款弹道扫描仪器，具有灵巧方便的功能，结合客户的要求进行科研实验及一发性分析非常方便。10位晶体交换装置、五种滤光片可选。

WDXRF制样方便，可以无需复杂的化学前处理即可分析样品的元素组成，并可以使用基本参数法得到样品所有元素的含量，为物证鉴定提供参考。

X射线荧光分析法可兼顾常量以及微量元素的分析，而且可以同时满足定性与定量分析的需求，非常适合对固废的分析要求，是快速获知固废中重金属和各种其它无机元素含量的检测方式。

海洋普查每次采集大量的样品，对这些样品的分析通常采用ICP、AAS等手段，相对来说分析速度慢。 我们尝试对其中As、Pb、Cr、Cu、Zn以及生活中常见的V、Co、Mn、Ni等九种重金属元素使用波长色散X射线荧光光谱仪进行了分析。 我们验证了波长色散X射线荧光在沉积物中的应用。结合国标GB18668-2002 中规定的限量标准，评估了XRF仪器的适用性。完全可以满足常见重金属元素As、Pb、Cr、Cu、Zn、V、Co、Mn、Ni的分析，同时，该仪器可以在分析有害元素的同时对常量元素进行测试，提高一次分析的有用范围。

GB18668-2002海洋沉积物质量标准规定了相关重金属等的限量标准。本质量标准中涉及的重金属污染物包括总Cd、总Hg、总As、总Cu、总Pb、总Cr、总Zn等。我们尝试对其中As、Pb、Cr、Cu、Zn以及生活中常见的V、Co、Mn、Ni等九种重金属元素使用波长色散X射线荧光光谱仪进行了分析。 X射线荧光分析（XRF）因其具有方便、快捷的特点，灵敏度也可以满足相关元素限量要求，X射线荧光光谱分析已经成为企业进行质控及产品分析的必备手段。本试验中，我们验证了波长色散X射线荧光在沉积物中的应用。结合国标GB18668-2002 中规定的限量标准，评估了XRF仪器的适用性。同时，该仪器可以在分析有害元素的同时对常量元素进行测试，提高一次分析的有用范围。

海洋普查每次采集大量的样品，对这些样品的分析通常采用ICP、AAS等手段，相对来说分析速度慢。 我们尝试对其中As、Pb、Cr、Cu、Zn以及生活中常见的V、Co、Mn、Ni等九种重金属元素使用波长色散X射线荧光光谱仪进行了分析。 我们验证了波长色散X射线荧光在沉积物中的应用。结合国标GB18668-2002 中规定的限量标准，评估了XRF仪器的适用性。完全可以满足常见重金属元素As、Pb、Cr、Cu、Zn、V、Co、Mn、Ni的分析，同时，该仪器可以在分析有害元素的同时对常量元素进行测试，提高一次分析的有用范围。

海洋普查每次采集大量的样品，对这些样品的分析通常采用ICP、AAS等手段，相对来说分析速度慢。 我们尝试对其中As、Pb、Cr、Cu、Zn以及生活中常见的V、Co、Mn、Ni等九种重金属元素使用波长色散X射线荧光光谱仪进行了分析。 我们验证了波长色散X射线荧光在沉积物中的应用。结合国标GB18668-2002 中规定的限量标准，评估了XRF仪器的适用性。完全可以满足常见重金属元素As、Pb、Cr、Cu、Zn、V、Co、Mn、Ni的分析，同时，该仪器可以在分析有害元素的同时对常量元素进行测试，提高一次分析的有用范围。

海洋普查每次采集大量的样品，对这些样品的分析通常采用ICP、AAS等手段，相对来说分析速度慢。 我们尝试对其中As、Pb、Cr、Cu、Zn以及生活中常见的V、Co、Mn、Ni等九种重金属元素使用波长色散X射线荧光光谱仪进行了分析。 我们验证了波长色散X射线荧光在沉积物中的应用。结合国标GB18668-2002 中规定的限量标准，评估了XRF仪器的适用性。完全可以满足常见重金属元素As、Pb、Cr、Cu、Zn、V、Co、Mn、Ni的分析，同时，该仪器可以在分析有害元素的同时对常量元素进行测试，提高一次分析的有用范围。

陶瓷主要是由粘性较高的高岭土、黏土、石英和长石等混合高温烧成而成，通过调整3者比例，可得到不同的抗电性能、耐热性能和机械性能的陶瓷。陶瓷成分组成复杂，有时加入如Sr Zr Zn等稀有元素来改变其性能，以达到SZP陶瓷的特殊用途；传统化学分析方法需要复杂的样品前处理，操作比较麻烦，性质接近的特殊元素的相互干扰无法掩蔽，而利用XRF荧光玻璃熔片法分析，样品处理简单方便，既可以消除矿物效应、粒度效应对结果的影响，又可以通过修正排除元素之间的干扰，提高了分析精度和准确度。本文使用岛津XRF-1800 波长色散X射线荧光光谱仪，建立了特殊陶瓷的分析方法，同时验证了方法的准确度和精密度。

将钠钙硅玻璃粉碎后熔融制成玻璃熔片，使用岛津波长色散X射线荧光光谱仪建立工作条件分析玻璃中的SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量。实验结果表明，测定结果完全能够满足国标《X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量》（征求意见稿）要求。该方法操作简单，能够很好地消除矿物效应、组织效应和颗粒度效应，提高了钠钙硅玻璃成分分析方法的准确度。

土壤所具有的复杂而明显的地域性特征，使其成为法医学追踪证据的主要形式之一。X射线荧光光谱法无需前处理，可直接进行全元素分析，操作灵活方便，被公安刑侦行业列为标准方法。本文使用岛津波长色散型X射线荧光光谱仪XRF-1800对各种土壤样品进行了分析，该方法结果全面、操作简便且无破坏，非常适用于公安领域对泥土类样品的鉴别分析。

化肥中的元素氮对作物生长起着非常重要的作用，有效的实施化肥在作物生长的不同阶段有着不同的作用，所施化肥的量的多少直接关系作物的生长。本文参考SNT 3810-2014《尿素和硫酸铵中氮含量测定X 射线荧光光谱法》标准，使用岛津XRF-1800建立了硫酸铵中氮元素的含量测定方法，该方法对含N量18.5%-21.2%的硫酸铵均可分析，相对偏差小于0.2%。

硅砂样品和特定混合溶剂按合适比例混匀，加入合适脱模剂置于铂黄坩埚中，在高温熔融炉中熔融制成玻璃熔片，用X射线荧光光谱法（XRF）测试硅砂主成分SiO2、Fe2O3、Al2O3、CaO、MgO、TiO2、MnO、P2O5、K2O、Na2O等元素，实验结果表明，该方法能消除矿物效应、组织效应和颗粒度效应对分析结果的影响，利用有含量梯度的硅石标样建立标准工作曲线，元素曲线线性良好，相关系数都在0.997以上，该分析方法的准确度和分析精度都能够达到国标GB/T 3404-82和GB/T 7143-2010规定要求。

F是易挥发卤族元素，高温熔融法时F容易挥发，为了获得好的分析结果，利用波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF）玻璃熔片法测试萤石中的CaF2时，需要选择合适的熔样条件及分析条件。本文研究了萤石熔融制样时熔剂比例、熔样温度等，在保证熔样精度的前提下降低稀释比获得好的灵敏度，优选使用高灵敏度SX-14分光晶体，获得更好的分析精度，采用多个含量梯度萤石标样制作萤石的工作曲线，曲线线性良好，方法精度良好。

稀土是化学元素周期表中镧系(镧、铈、镨、钕、钷、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥)15个元素和21号元素钪、39号元素钇(共17个元素)的总称。长期以来对于稀土的分析多采用经典化学分析，但是由于元素性质相近，给分离、富集、分析带来了很多困难。本文使用波长色散X射线荧光压片分析方法可以直接分析稀土中各元素，给稀土分析带来了新的方法。

天然卤水制得的盐卤中富含K、Na、Mg、Li、B等元素，是重要的工业化工原料。本文使用岛津XRF和XRD联合分析了两个盐湖盐卤样品，XRF给出了盐卤样品元素组成信息，XRD的物相鉴定直接给出了盐卤样品中元素的赋存状态，即准确定性化合物，两种检测技术从不同角度给出了样品的组分信息。该方法无需化学前处理，制样和测试均比较简单，测试时间短，可快速了解盐卤的成分组成，为提高盐卤资源利用率奠定了基础，可供盐卤化工行业从业者参考。

本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，采用玻璃熔片制样方法，测定了硅石中主要杂质元素。结果表明，Fe2O3、Al2O3、CaO、K2O、Na2O、MnO、TiO2等主要杂质元素标准曲线线性良好，相关系数r均在0.99以上。平行10次测定各组分RSD在10.0%以下，满足工业硅生产对硅石主要杂质成分的检测要求。

钨精矿经预氧化后制成玻璃熔片，使用岛津XRF-1800顺序扫描型X射线荧光光谱仪分析，工作曲线线性良好，方法精密度高，不产生化学污染，对环境友好；同时采用玻璃熔片法克服了矿物结构对分析结果的影响，降低了共存元素之间的干扰，从而可以提高分析钼精矿的检测效率，可作为钼精矿主量元素测定的一种高效、可靠、环保的检测手段。

本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，采用玻璃熔片法制样，建立了测定工业硅生产用碳质材料中杂质元素的方法。碳质材料经灼烧除碳，杂质元素会富集至灰分中，称量一定量的灰分与专用熔剂按一定比例混合，高温熔融制备成玻璃片，用X荧光光谱仪进行测定。碳质材料的灰分与粘土化学成分类似，以粘土标样为基础建立工作曲线，工作曲线线性良好，相关系数r在0.9999以上，此方法可以准确测定碳质材料杂质元素化学成分，满足工业硅生产对碳质材料杂质成分的检测要求。

WDXRF制样方便，可以无需复杂的化学前处理即可分析样品的元素组成，并可以使用基本参数法得到样品所有元素的含量，为工艺控制提供参考。