那诺中国主要提供基于飞行时间的质谱仪,涉及用于材料表面分析应用的飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)、用于气体分析的电子电离飞行时间质谱仪(EI-TOF-MS)、用于环境监测的质子转移反应飞行时间质谱仪(PTR-TOF-MS)等。
企业名称
那诺中国有限公司
企业类型
民营
信用代码
2225748
法人代表
张文闯
注册地址
香港湾仔骆克道89号湾仔中汇大厦4楼401室
成立日期
2015-04-17
注册资本
100
有效期限
2015-04-17 至 2115-04-17
经营范围
各类半导体微纳加工及检测设备,包括薄膜沉积、刻蚀及清洗去胶设备、飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)等