高光谱近端表型自动化分析系统

产品简介

高光谱近端表型自动化分析系统是由工业级成像室和分析软件构成的近端表型分析系统。可通过软件对样本进行拍摄和表型的自动化提取，包括光谱、颜色、纹理、形态四大类指标。无需人工修正，分析图表自动化保存，描出样品轮廓方便客户查看识别精度，支持海量图像批量分析以及个性化指标的升级扩展。(相机为高光谱相机)

产品参数

1、▲操作简单：可通过一个软件进行拍照控制和数据分析，可对当前成像图片，或历史图像，一键便可进行自动化表型提取；

2、▲可扩展性:  不仅支持自动化提取，还支持通过添加模型功能任意扩展个性化指标；

3、灵活配置：可根据用户研究对象调整箱体大小及相机类型，默认针对目标作物(高0.7M*宽0.5M以内)定制；箱体内配置高光谱相机；

4、▲适用范围：适用多尺度组织和器官，支持类型不少于5种主流尺度，包括不限于种子、叶片、花、果实、整株等；

5、▲系统功能：涵盖表型提取、模型预测、可视化绘图三大功能，支持个性化指标的升级扩展，支持海量图像批量分析，支持根据电脑配置自动调节占用的CPU核数速度； 

6、操作方式：傻瓜式操作界面，用户只需点击界面上两个按钮即可进行分析；

7、选择方式：支持两种文件选择方式，支持选择文件夹，支持海量图像批量分析；

8、自定义界面：支持用户拖拽工具栏，按照使用偏好可放置上、下、左、右四个区域。

9、图像格式：支持所有主流图像格式，包括不限于JPG、PNG、Tif等；

10、▲提取指标：可灵活配置要提取的表型类型和分析区域，表型提取功能涵盖四大类型(光谱、颜色、纹理、形态)，可提取指标不少于160个，包括不限于长、宽、面积、周长、圆度、紧凑度、PRI（光化学植被指数）、DCNI（双峰冠层氮指数）、RES（红边对称性）、SlPl（结构不敏感植被指数）、NDCl（归一化差值叶绿素指数）、Cl（聚集度指数）、DD（双差指数）、CCll（VI指数比值）、DDn（新双差指数）、REFCA（红边反射率曲线区域）、RES（红边对称性）、MTCl（光仪地面叶绿素指标）、Red edge(红边)，NIR(近红外)、NDVI(归一化植被指数)、GNDVI(绿光归一化差值植被指数)、NDRE(归一化差异红色边缘指数)、OSAVI(优化型土壤调节植被指数）、LCI(叶面叶植被指数)、小区面积、覆盖度、小区纹理、NGRDI（归一化绿红差异指数） 、ExG（过绿指数） 、CIVE（植被提取颜色指数） 、VEG （植被因子指数）、ExGR（超绿超红差分指数）等；

11、▲模型预测：功能支持传统机器学习模型和深度学习模型两大类型，其中支持的传统机器学习模型覆盖所有 joblib 保存的模型， 包括不限于 SVM、Random Forest、GBDT、Decision Tree、AdaBoost、BPNN、KNN、Naïve Bayes、Logistic Regresion等,支持的深度学习支持所有keras 保存的模型， 包括不限于VGG、ResNet、NasNet、DenseNet、EfficientNet、Xception、MobileNet 等；支持客户上传标记文件，自动评估模型准确度。

12、▲可视化绘图：该功能支持分析图表自动化存储，并可描出目标轮廓方便用户查看识别精度，以及自动标记目标编号方便用户查看表格数据；

13、售后：提供一年内资源免费升级，后期可根据用户需求提供个性化功能开发；硬件一年质保

14、供应商须提供免费服务电话。远程优先，远程无法解决时，72小时内提供上门服务；