FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230

简介

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

XDL 230 特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。典型的应用领域有：

• 测量大规模生产的电镀部件

• 测量超薄镀层，例如：装饰铬

• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

• 测量印刷线路板

• 分析电镀溶液

XDL230 有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。

由于采用了 FISCHER 完全基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

设计理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 是一款用户界面友好的台式测量仪器。手动操作的 X-

Y 工作台，马达驱动的 Z 轴系统。

高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以精确定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。配备了激光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。

测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计，由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如：大型的印制电路板。

带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放，并且允许测量点的精确调整。

所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的 WinFTM®软件在电脑上完成。

XDL 型镀层测厚及材料分析仪作为受完全保护的仪器，型式许可完全符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。

通用规格

设计用途

能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF)， 用于测定超薄镀层和溶液分析。

元素范围

从元素 氯(17) 到 铀(92)

配有可选的 WinFTM® BASIC 软件时，最多可同时测定 24 种元素

设计理念

台式仪器，测量门向上开启

测量方向

由上往下

X 射线源

X 射线管

带铍窗口的钨管

高压

三档： 30 kV，40 kV，50 kV

孔径（准直器）

Ø 0.3 mm 可选：Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；长方形 0.3 mm x 0.05 mm

测量点尺寸

取决于测量距离及使用的准直器大小，

实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致最小的测量点大小约 Ø 0.2mm

X 射线探测

X 射线接收器测量距离

比例接收器

0 ~ 80 mm，使用专利保护的 DCM 测量距离补偿法

样品定位

视频系统

高分辨率CCD彩色摄像头，沿着初级X射线光束方向观察测量位置手动聚焦，对被测位置进行监控

十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸）

可调节亮度的LED照明，激光光点用于精确定位样品

放大倍数

40x – 160x

电气参数

电源要求

220 V ，50 Hz

功率

最大 120 W （不包括计算机）

保护等级

IP40

尺寸规格

外部尺寸

宽×深×高[mm]：570×760×650

内部测量室尺寸

宽×深×高[mm]：460×495x（参考“样品最大高度”部分的说明）

重量

107 kg

环境要求

使用时温度

10°C – 40°C

存储或运输时温度

0°C – 50°C

空气相对湿度

≤ 95 %，无结露

工作台

设计

手动 X/Y 平台

95 x 150 mm

420 x 450 mm

马达驱动140 mm 20kg  140 mm 有

X/Y 平台最大移动范围

可用样品放置区域

Z 轴

Z 轴移动范围

样品最大重量

样品最大高度

激光（1 级）定位点

计算单元

计算机

带扩展卡的 Windows®计算机系统

软件

标准： WinFTM® V.6 LIGHT

可选： WinFTM® V.6 BASIC，PDM，SUPER

执行标准

CE 合格标准

EN 61010

型式许可

作为受完全保护的仪器

型式许可完全符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。

订货号

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

604-496

如有特殊要求，可与 FISCHER 磋商，定制特殊的 XDL 型号。