快速、准确地分析纳米级镀层
FT160 台式 XRF 分析仪旨在测量当今 PCB、半导体和微连接器上的微小部件。
准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。
FT160 的多毛细管光学元件可以测量小于 50 μm 的特征上的纳米级镀层,先进的检测
器技术可为您提供高精度,同时保持较短的测量时间。其他功能,例如大样品台、宽样
品舱门、高清样品摄像头和坚固的观察窗,可以轻松装载不同尺寸的物品并在大型基板
上找到感兴趣的区域。该分析仪易于使用,与您的 QA / QC 流程无缝集成,在问题危机
发生前提醒您。
FT160 的光学和检测器技术专为微光斑和超薄镀层分析而设计,针对细小的特征进行了优化。
用于从安全距离查看分析的大观察窗
测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987 标准
IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554 和 IPC-4556 一致性镀层检测
用于快速样品设置的自动特征定位
为您的应用优化的分析仪配置选择
在小于 50 μm 的特征上测量纳米级镀层
将传统仪器的分析通量提高一倍
可容纳各种形状的大型样品
专为长期生产使用的耐用设计
FT160 | FT160L | FT160S | |
元素范围 | Al – U | Al – U | Al – U |
探测器 | 硅漂移探测器 (SDD) | 硅漂移探测器 (SDD) | 硅漂移探测器 (SDD) |
X射线管阳极 | W 或 Mo | W 或 Mo | W 或 Mo |
光圈 | 多毛细管聚焦 | 多毛细管聚焦 | 多毛细管聚焦 |
孔径大小 | 30 μm @ 90% 强度(Mo tube) 35 μm @ 90% 强度(W tube) | 30 μm @ 90% 强度(Mo tube) 35 μm @ 90% 强度(W tube) | 30 μm @ 90% 强度(Mo tube) 35 μm @ 90% 强度(W tube) |
XY轴样品台行程 | 400 x 300 mm | 300 x 300 mm | 300 x 260 mm |
样品尺寸上限 | 400 x 300 x 100 mm | 600 x 600 x 20 mm | 300 x 245 x 80 mm |
样品聚焦 | 聚焦激光和自动聚焦 | 聚焦激光和自动聚焦 | 聚焦激光和自动聚焦 |
测试点识别 | ? | ? | ? |
软件 | XRF Controller | XRF Controller | XRF Controller |
日立X荧光测厚仪FT160的工作原理介绍
X荧光测厚仪FT160的使用方法?
日立FT160多少钱一台?
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企业名称
深圳市泰斯特尔系统科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司
信用代码
9144030059778998XB
成立日期
2012-05-31
注册资本
500万人民币
经营范围
测试系统、显微镜、自动化设备、环境试验设备、电气设备、振动测试设备、淋雨及沙尘实验设备的研发、销售,并提供相关技术服务、测试服务.汽车技术、光机电一体化、航天海洋与现代运输装备、能源与环保、传统产业中的高科技运用、从事机电领域内的技术开发,技术咨询;电子产品、仪器仪表、电子元器件的技术开发与销售.国内贸易;货物及技术的进出口业务.,许可经营项目是:测试系统、显微镜、自动化设备、环境试验设备、电气设备、振动测试设备、淋雨及沙尘实验设备的生产、加工、安装和维修.
深圳市泰斯特尔系统科技有限公司
公司地址
龙岗区南湾街道下李朗南路东久创新科技园3栋5楼
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