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GB/T 12085.16-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第16部分:弹跳或恒加速度与高温、低温综合试验

2023-09-01 11:16

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资料摘要:

1范围 本部分规定了弹跳或恒加速度与高温或低温综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记, 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、化学和电气等性能受到弹跳或恒加速度与高温、低温影响时的变化程度。 3试验条件 在综合作用力条件下对暴露的试样进行的测试,要比任一种单一环境条件试验更为严酷。表中规定的温度值选自GB/T12085.2,条件试验方法10和11。试验应符合GB/T 12085.3的要求。 固定试样的装置应符合GB/T 2423.43的要求,试样夹具应隔热。若试样装在减震器上,则应考虑减震器元件恒温的时间。仪器用于抗弹跳(条件试验方法57和58)的试验是在带运输包装或贮存或运输情况下进行。 4条件试验 4.1 总则 试样各部分都应达到试验箱(室)温度3K以内才开始试验。对于散热型试样,在温度稳定的试验箱(室)内试样的温度变化在每小时不超过1K时作为开始(或终止)暴露周期的时间,试样温度达到稳定的最后1h作为暴露周期的最初1h。
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1 范围 GB/T4909的本部分规定了裸电线卷绕试验的试验设备、试件制备、测量步骤、试验结果及评定等。 本部分适用于测定标称直径d为0.3mm~10.0mm的铜、铝及其合金、双金属线等圆截面导体及 特征尺寸a≤20.0mm的异形截面导体(如接触线等)的卷绕性能。 本试验方法是将试件围绕规定直径的试棒卷绕规定圈数,观察其表面的变化。卷绕方式可以是重复卷绕或一次卷绕。 本部分应与GB/T 4909.1--2009一起使用。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/T4909的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有申嵯改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研穷是香可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。 GB/T4909,y-2009裸电线试验方法 第1部分:总则

1 范围GB/T4909的本部分规定了裸电线弯曲试验中的单向弯曲试验的试验设备、试件制备、测量步骤、试验结果及评定等。本部分适用于测定标称直径d为0.300 mm~10.00 mm的铜、铝及其合金、双金属线等圆形、矩形截面导体的单向弯曲性能。本部分是将试件沿规定弯曲半径弯成一定的角度,观察弯曲后试件的张力表面情况。本部分应与GB/T 4909.1—2009一起使用。

1 范围 GB/T4909的本部分规定了裸电线弯曲试验中的反复弯曲试验的试验设备、试件制备、测量步骤、试验结果及评定等。 本部分适用于测定标称直径d为0.3mm~10.0mm的铜、铝及其合金、双金属线等圆截面导体及 特征尺寸u≤20.0 mm的异形截面导体(如接触线等)的反复弯曲性能。 本部分是将试件一端固定,自由端沿规定半径的圆柱面作正反方向90°的弯曲试验,弯曲到规定的次数或到试件断裂为止。 本部分应与GB/T 4909.1—2009一起使用。

1 范围 GB/T4909的本部分规定了裸电线扭转试验的试验设备、试件制备、测量步骤、试验结果及评定等。 本部分适用于测定标称直径d为0.300mm~10.00 mm的铜、铝及其合金、双金属线等圆截面导体及特征尺寸a≤20.00 mm的异形截面导体(如接触线等)的扭转性能。 本部分是将规定长度的试件,以其自身的轴线为中线扭转,直至断裂或达到规定的扭转次数为止。本部分应与GB/T4909.1—2009一起使用。

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