德瑞检测 低温湿热试验箱DR-H201-150C

GJB 150.9A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验

1 范围 本部分规定了军用装备的实验室湿热试验的目的与应用、剪裁指南、信息要求、试验要求、试验过程和结果分析的内容。 本部分适用于对军用装备进行湿热试验。 2 引用文件 下列文件中的有关条款通过引用而成为本部分的条款。凡注日期或版次的引用文件，其后的任何修改单(不包括勘误的内容)或修订版本都不适用于本部分，但提倡使用本部分的各方探讨使用其最新版本的可能性。凡不注日期或版次的引用文件，其最新版本适用于本部分。 GJB 150.1A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第1部分：通用要求GJB 4239 装备环境工程通用要求 3 目的和应用 3.1 目的 本试验的目的是确定装备耐湿热大气影响的能力。 3.2 应用 本试验适用于： a) 可能在湿热环境中贮存或使用的装备； b) 可能在产生高湿度的环境中贮存或使用的装备； c) 显示装备可能与湿热相关的潜在问题。 选择合适的自然环境现场对装备进行试验效果更好，但由于后勤保障、费用或时间等方面的原因而难以实现。湿热条件在热带地区全年都可能出现，在中纬度地区则季节性地出现，在经受压力、温度和相对湿度综合变化的装备内也会出现

GB/T 32065.3-2015 海洋仪器环境试验方法 第3部分：低温贮存试验

1 范围 GB/T 32065的本部分规定了海洋仪器低温贮存试验的试验要求、试验过程及相关信息。本部分适用于考核或确定海洋仪器在低温环境条件下贮存的适应性。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 32065.1—2015海洋仪器环境试验方法 第1部分：总则 3 试验要求 3.1 一般要求 海洋仪器低温贮存试验的标准大气条件、试验样品安装、试验温度稳定、试验中断处理等应分别按照GB/T 32065.1—2015中4.2、6.1、6.2和第7章的规定进行。 3.2试验设备 3.2.1试验设备应符合GB/T 32065.1—2015中第5章的规定。 3.2.2试验时，试验样品应尽可能的靠近试验箱(室)的中央，其任何表面与对应的试验箱(室)壁间的最小距离应大于15 cm,且试验箱(室)内的风速应不大于1.7m/s。 3.2.3试验样品在试验箱(室)内应不受任何发热和冷却元件的直接辐射。

GB/T 5170.18-2022 环境试验设备检验方法 第18部分：温度/湿度组合循环试验设备

1 范围 本文件规定了温度/湿度组合循环试验设备(以下简称“设备”)的检验项目、检验用仪器及要求、检验负载、检验条件、检验方法、检验结果、检验周期。 本文件适用于GB/T 2423.34—2012一箱法试验所用试验设备的检验。当采用两箱法试验时，所用湿热与低温试验设备的检验分别按本文件第8章的规定进行。 本文件也适用于类似试验设备的检验。 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 2423.34—2012 环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验 GB/T 5170.1 电工电子产品环境试验设备检验方法 第1部分：总则

GB/T 5170.17-2005 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温/低气压/湿热综合顺序试验设备

1 范围 1.1 本部分规定了低温/低气压/湿热综合顺序试验设备在进行周期检定时的检定项目、检定用主要仪器及要求、检定条件、测量点数量及布放位置、检定步骤、数据处理及检定结果等内容。 1.2本部分适用于对GB/T 2423.27—2005《电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法》所用试验设备的周期检定。 本部分也适用于类似试验设备的周期检定。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/T 5170的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。 GB/T 2423.27-2005电工电子产品基本环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AMD:低温/ 低气压/湿热连续综合试验(IEC 60068-2-39:1976,IDT) GB/T 5170.1—1995 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 总则GB/T 6999 环境试验用相对湿度查算

GB/T 5170.5-2016 电工电子产品环境试验设备检验方法 第5部分：湿热试验设备

1 范围 GB/T 5170的本部分规定了湿热试验设备(以下简称“设备”)的检验项目、检验用仪器及要求、检验负载、检验条件、检验方法、检验结果、检验周期等内容。 本部分适用于对GB/T 2423.3、GB/T 2423.4、GB/T 2423.16、GB/T 2423.50所用试验设备的检验。本部分也适用于类似试验设备的检验。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 2423.3 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab:恒定湿热试验 GB/T 2423.4 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db 交变湿热(12 h+12 h循环) GB/T 2423.16 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验J和导则：长霉 GB/T 2423.50环境试验 第2部分；试验方法 试验Cy:恒定湿热主要用于元件

GB/T 14092.7-2009 机械产品环境条件 干热

1 范围 本部分规定了机械产品在干热地区的环境参数及其严酷等级。 本部分适用于GB/T 4797.1规定的干热气候区一般用途的机械产品，包括农机具、内燃机、工程机械、矿山机械、重型机械、起重运输机械、石化通用机械、电工产品、仪器仪表、机床工具和通用零部件等。 3环境条件 每种环境条件由多种环境参数组成。例如气候条件由温度、相对湿度等环境参数组成。而各个环境参数由于实际情况的不同，又可分为若干个严酷等级，例如高温分成45℃、50℃、55℃等几个等级。 环境条件分成八种：风沙地貌、地下水、气候条件、特殊气候条件、生物条件、化学活性物质条件、机械活性物质条件和机械条件。

GB/T 14092.1-2009 机械产品环境条件 湿热

1 范围 本部分规定了机械产品在湿热地区的环境参数及其严酷等级。 本部分适用于GB/T4797.1规定的“湿热”和“亚湿热”两个气候区使用的一般用途的机械产品，包括农机具、内燃机、工程机械、矿山机械、重型机械、起重运输机械、石化通用机械、电工产品、仪器仪表、机床工具、通用零部件等。 本部分不适用于高浓度化学腐蚀介质、船舶、矿井用产品的特殊环境条件。

GB/T 12085.22-2022 光学和光子学 环境试验方法 第22部分：低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验

1范围 本文件描述了光学和光子学低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验的环境试验方法。本文件适用于光学和光子学仪器以及来自其他领域的组件(如机械、化学和电子设备)的低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验。 4试验条件 在综合作用力条件下，对暴露的试样进行的试验，要比前述任何示例环境条件试验更为严酷。施加的综合低温、高温或温度变化和碰撞或随机振动应力条件应与实际使用条件相符合。寿命试验时，为了 缩短试验时间，激发损伤，采用严醋程度较高等级的综合试验方法，如老化、磨合或环境应力筛选。 老化、磨合或环境应力筛选是对光学和光子学仪器以及包含光学部件和电子组件的试验方法。在系统关机或开机、运转、贮存、运输或其他温度循环状态下，该方法综合正弦或随机振动和过压或电压不足时运转的试验。

GB/T 12085.11-2022 光学和光子学 环境试验方法 第11部分：长霉

1范围 本文件描述了光学和光子学长霉试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器，包括来自其他领域的组件(如机械、化学和电子设备)的长霉试验。 本文件不适用于常规生产检查。 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 12085.1 光学和光子学 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围(GB/T 12085.1— 2022,ISO 9022-1:2016,MOD)

GB/T 12085.2-2022 光学和光子学 环境试验方法 第2部分：低温、高温、湿热

1 范围 本文件描述了光学和光子学低温、高温、湿热试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器包括来自其他领域附属组件(如机械、化学和电子设备)的低温、高温与湿热试验。 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T12085.1 光学和光子学 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围(GB/T 12085.1一 2022,ISO 9022-1:2016,MOD)

GB/T 4937.30-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理

1 范围 GB/T 4937的本部分规定了非密封表面安装器件(SMDs)在可靠性试验前预处理的标准程序。本部分规定了SMDs的预处理流程。 SMDs在进行规定的室内可靠性试验(鉴定/可靠性监测)前，需按本部分所规定的流程进行适当的预处理，以评估器件的长期可靠性(受焊接应力的影响)。 注：GB/T 4937.20和本部分中的潮湿诱导应力敏感度条件[或潮湿敏感度等级(MSL)]与实际使用的再流焊条件之间的关系依赖于半导体器件承制方的温度测量。因此，建议在装配过程中，实时监控温度最高的潮湿敏感SMD封装顶面的温度，以确保其温度不超过元件评估温度。

GB/T 4937.21-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分：可焊性

1 范围 GB/T4937的本部分规定了采用铅锡焊料或无铅焊料进行焊接的元器件封装引出端的可焊性试验程序。 本试验方法规定了通孔、轴向和表面安装器件(SMDs)的"浸入和观察"可焊性试验程序，以及可选的SMDs板级安装可焊性试验程序，用于模拟在元器件使用时采用的焊接过程。本试验方法也规定了老化条件，该条件为可选。 除有关文件另有规定外，本试验属于破坏性试验。 注1:本试验方法与GB/T2423基本一致，但由于半导体元器件的特殊要求，采用本试验方法。 注2:本试验方法未对焊接过程中可能产生的热应力影响进行评估。参见IEC 60749-15或IEC 60749-20。