高低温低气压试验箱DR-H208A

GJB 150.2A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第2部分：低气压(高度)试验

1 范围 本部分规定了军用装备实验室低气压(高度)试验的目的与应用、剪裁指南、信息要求、试验要求、试验过程和结果分析的内容。 本部分适用于对军用装备进行低气压(高度)试验。 2 引用文件 下列文件中的有关条款通过引用而成为本部分的条款。凡注日期或版次的引用文件，其后的任何修改单(不包括勘误的内容)或修订版本都不适用于本部分，但提倡使用本部分的各方探讨使用其最新版本的可能性。凡不注日期或版次的引用文件，其最新版本适用于本部分。 GJB 150.1A-2009军用装备实验室环境试验方法 第1部分：通用要求 GJB 150.3A-2009军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB 150.24A-2009军用装备实验室环境试验方法 第24部分：温度-湿度-振动-高度试验GJB 4239装备环境工程通用要求 3 目的与应用 3.1 目的 本试验的目的在于确定装备在常温条件下能否： a) 耐受低气压环境； b) 在低气压环境下正常工作； c) 耐受空气压力快速变化。

GB/T 5170.10-2017 环境试验设备检验方法 第10部分：高低温低气压试验设备

1范围 GB/T 5170的本部分规定了高低温低气压(含低气压、低温低气压和高温低气压)试验设备(以下简称"设备")的检验项目、检验用仪器及要求、检验负载、检验条件、检验方法、检验结果、检验周期等内容。 本部分适用于对GB/T 2423.21、GB/T 2423.25和GB/T 2423.26所用设备的检验。本部分也适用于类似设备的检验。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 2423.21 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验M:低气压 GB/T 2423.25 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AM:低温/低气压综合试验 GB/T 2423.26 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BM:高温/低气压综合试验 GB/T 5170.1—2016 电工电子产品环境试验设备检验方法 第1部分：总则GB 12348—2008 工业企业厂界环境噪声排放标准

GB/T 14092.3-2009 机械产品环境条件 高海拔

1 范围 本部分规定了机械产品高海拔环境条件的环境参数及其严酷等级。 本部分适用于1000m～5000m高海拔地区使用的一般用途的机械工业产品。包括农机具、内燃机、工程机械、矿山机械、石化通用机械、电工产品、仪器仪表、机床工具、通用零部件、重型机械、起重运输机械等。 本部分不适用于高海拔地区存在爆炸危险介质、矿井等特殊环境条件下使用的机械产品。

DZ 0039.10-92地质仪器产品基本环境试验条件及方法 低气压试验

1 主题内容与适用范围 本标准规定了地质仪器产品(以下简称产品)低气压试验条件及试验方法。本标准适用于有低气压要求的各类地质仪器产品的低气压试验。目的在于确定受试产品在常温低气压环境条件下使用、运输和贮存的适应性及密封的完好性。 2同时使用的标准 本标准与DZ 0039.1《地质仪器产品基本环境试验条件及方法 总则》同时使用。 3试验条件 低气压试验条件见表：

GB/T 12085.23-2022 光学和光子学 环境试验方法 第23部分：低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验

1 范围 本文件描述了低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器以及来自其他领域附属组件(如机械、化学和电子设备)的低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验。 4试验条件 本文件将大气温度设为(23±3)℃。 表1～表6规定的温度和气候条件，按GB/T12085.2中规定的条件试验方法10、11和12。在选择试验箱尺寸和试样安装时，应保证试验箱(室)内所有试样的温度均匀。 对于条件试验方法45、46、50和51,需要在低压箱(室)中进行空气循环。低压箱(室)本身，既可以作为一个温热箱(室),也可以安装在一个温热箱(室)里。 对于条件试验方法47至49,需要一个气候试验箱(室)。采用三种不同的试验方法，对光学和光子学仪器的耐湿热和耐内压综合性能进行试验。允许试样上有露水。每个试验步骤应逐个连续进行，不准许试验中断。 除条件试验方法47之外，如产生冷凝，应保护试样不受冷凝水下落影响。除条件试验方法48之外，还需要低压容器。除条件试验方法49之外，按GB/T12085.8规定，试样还应有一个连接器，用于排气和压力测量。

GB/T 12085.21-2011 光学和光学仪器 环境试验方法 第21部分：低压与大气温度、高温综合试验

1 范围 本部分规定了低压与大气温度、高温综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 3一般试验条件 本部分规定的大气温度为(23±3)℃。 表2规定的温度值选自GB/T12085.2中的条件试验方法11. 试验条件采用空气循环的低压箱(室)。低气压箱本身可作为温热箱，也可将其安装在温热箱中。试验箱(室)的大小及所选试样的布置状态，应能保证所有试样都处于均匀的温度下。 如需预热，应在降压之前开始加热，以达到试验箱(室)温度。试验气压设置宁肯最迟，也要先达到试验箱温度。 升压时，试样上不许有凝露。这可用高纯氮气或干燥空气为试验箱通风的方法实现。 温度变化应缓慢进行，以免引起试样的损坏。在改变箱内气压时，应避免气压的急剧变化，因为这样也不符合自然条件。 试样的各个部分都调整到试验箱(室)的温差在3K之内并达到规定的气压值时，试验条件周期开始。发热的试样应置于试验温度下，直到试验箱(室)温度稳定期间试样的温度变化不超过1K/h,然后开始降压。在降压过程中，允许试样自身发热，直到试验压力达到规定值时，试验条件周期就开始。

GB/T 12085.5-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第5部分：低温、低气压综合试验

1 范围 本部分规定了低温与低气压综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于在高山地区或飞机仪表盘上或导弹上使用的光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、化学和电学等特性受到低温与低气压影响的变化程度，包括测定水的冷凝和冻结对仪器或零部件的附加影响。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/T 12085的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。 GB/T12085.1 光学和光学仪器 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围

GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分：低气压

1范围 本部分适用于半导体器件的低气压试验。本项试验的目的是测定元器件和材料避免电击穿失效的能力，而这种失效是由于气压减小时，空气和其他绝缘材料的绝缘强度减弱所造成的。本项试验仅适用于工作电压超过1000 V的器件。 本项试验适用于所有的空封半导体器件。本试验仅适用于军事和空间领域。 本项低气压试验方法和IC 60068-2-13大体上一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，使用本部分条款。2规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/T4937的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。 IEC 60068-2-13 环境试验 第2部分：试验M:低气压 3试验设备 本试验所需仪器设备包括一台真空泵、一个合适的密封室(必要时，该密封室还应具备能观察样品的装置)、一台可用于测量密封室模拟高度的气压表和一只能在直流到30 MHz内检测电流的微安表或示波器。