模拟环境不锈钢恒温恒湿试验机DR-H201B

GB/T 3836.33-2021 爆炸性环境 第33部分：严酷工作条件用设备

1 范围 本文件给出了一20 ℃以下环境温度条件和其他附加严酷条件(包括海上应用)的爆炸性环境用设备的指南。 本文件对这类设备的设计、制造和使用提供建议。本文件适用于在防爆合格证规定的环境条件范围内运行的设备。 注：气候条件分级详见GB/T4796、GB/T4797(所有部分)、GB/T4798(所有部分)和GB/T 2421。本文件与GB/T 3836的其他有关部分一起使用。 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T3836.1 爆炸性环境 第1部分：设备 通用要求(GB/T 3836.1—2021,IEC 60079-0: 2017,MOD) GB/T3836.4 爆炸性环境 第4部分：由本质安全型“i”保护的设备(GB/T 3836.4—2021, IEC 60079-11:2011,MOD) GB/T3836.15 爆炸性环境 第15部分：电气设备的设计、选型和安装(GB/T 3836.1

GB/T 4798.3-2007 电工电子产品应用环境条件 第3部分：有气候防护场所固定使用

1 范围 本部分适用于地面固定使用的产品在正常使用中(包括安装、停机和维修等)遇到的环境参数组分类及其严酷等级。 本部分包括产品安装于临时或永久性固定使用的有气候防护场所，如陆地、海边封闭和遮蔽场所。不包括车辆上和车辆内的产品。 本部分规定了仅限于直接影响产品性能的环境条件。只有这一类的环境条件才予以考虑。而不描述这些环境条件对产品的影响。 不考虑由着火、爆破和离子辐射造成的环境条件和其他意外的偶然事故造成的环境条件。在特殊情况下，应考虑这些因素发生的几率。 不包括产品内部的微气侯。 无气候防护场所固定使用、携带和非固定使用、车用和船用、贮存和运输条件，以及产品内部的微气|候在GB/T 4798的其他部分规定。 有限数量的环境条件等级包括广泛的应用场合。本部分使用者应选择能涵盖预期使用条件的最低等级。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/T 4798的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用

GB/T 32710.8-2016 环境试验仪器及设备安全规范 第8部分：生化培养箱

1 范围 GB/T 32710的本部分规定了测量、控制与实验室用的生化培养箱、低温培养箱和低温陈列柜的电击和电灼伤，机械危险，火焰从设备内向外蔓延，过高温，流体和流体压力的影响，辐射影响(包括激光器、声压和超声压),释放的气体、爆炸和内爆以及生物和化学危险的安全内容。但不包括与安全无关的设备的可靠功能、性能或其他特性、运输包装的有效性、电磁兼容(EMC)要求、对爆炸环境的防护措施、维修(修理)、维修(修理)人员的防护。 注1:生化培养箱的工作温度范围可低于和/或高于环境温度，作为冷源时，可以从空气以及位于空气中的样品中吸收热量，作为热源时，可以向空气以及位于空气中的样品施加热量。 本部分适用于测量、控制与实验室用的生化培养箱、低温培养箱和低温陈列柜等。 注2:这类仪器与设备可能是探入式培养箱，也可能是步人式培养箱。

GB/T 12085.20-2022 光学和光子学 环境试验方法 第20部分：含二氧化硫、硫化氢的湿空气

1 范围 本文件描述了光学和光子学含二氧化硫、硫化氢的湿空气试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器以及来自其他领域的组件(如机械、化学和电子设备)的含二氧化硫、硫化氢的湿空气试验。 4一般要求 用于试验的二氧化硫和硫化氢应为化学纯气体，取自天然压缩气缸。适宜的试验装置见附录A.试验过程中，试样不应直接暴露于阳光下，试验箱(室)或试样本身不应有凝露产生。因此，在放入试验箱(室)之前，试样应加热到比事先设定的试验箱(室)温度高2K或3K。如果多个试样同时试验，则试样之间或试样与试验箱(室)壁不应相互接触。试样体积不应超过试验箱(室)体积(暴露区)的50%。在试验开始后，试样应在2h内达到要求的试验条件。在要求的暴露时间内，试验不应中断。当试验气体改变时，上次所用的试验气体应全部从试验箱(室)中排尽。在试验箱(室)中不应采用吸收二氧化硫和硫化氢的材料。

GB/T 4937.31-2023半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分：塑封器件的易燃性(内部引起的)

1 范围 本文件适用于半导体器件(分立器件和集成电路),以下简称器件。本文件用于确定器件是否由于过负荷引起内部发热而燃烧。 2 规范性引用文件 本文件没有规范性引用文件。 3 术语和定义 本文件没有需要界定的术语和定义。 4 试验程序 应使器件不带热沉，在大气环境中工作，并使其内部耗散功率从最大额定值缓慢增加，直至出现下列任一状态： a) 内部耗散功率达到25℃时最大额定耗散功率的5倍，在这种情况下，该功率应至少保持1 min; b)器件开路、短路或者器件的阻值上升到不能再进一步增加内部耗散功率的程度； c) 器件燃烧。器件只有阴燃或燃烧时，才应视为器件失效。

GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则

1 范围 本部分适用于半导体器件(分立器件和集成电路)并为GB/T4937系列的其他部分建立通用准则。当本部分与相应的详细规范有矛盾时，以详细规范为准。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/T 4937的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。 IEC 60050(所有部分) 国际电工技术词汇(IEV) IEC 60747(所有部分)半导体器件——分立器件 IEC 60748(所有部分)半导体器件——集成电路

JB/T 13702.5-2019照相机环境试验 第5部分：自由跌落试验

1范围 JB/T 13702的本部分规定了银盐胶片照相机、数码照相机等产品的自由跌落试验方法。本部分适用于银盐胶片照相机、数码照相机。照相镜头、照相器材等产品也可参照执行。 2试验条件 2.1 试验台面 试验台面应为平滑、坚硬的混凝土或钢。 2.2释放方法 试验样品的释放方法应使试验样品从悬挂位置自由跌落。在释放时，应使干扰最小。 2.3试验样品的包装 试验样品以最小包装单位进行试验。 3严酷程度 3.1跌落高度 试验样品悬挂位置距试验台面的最小距离；银盐胶片照相机为1000 mm,数码照相机及照相器材为800mm。 3.2跌落次数：2次。

GB/T 2424.7-2006电工电子产品环境试验试验A和B(带负载)用温度试验箱的测量

1 范围 GB/T 2424的本部分规定了一项统一的、可再现的方法，以确认其在有散热性/非散热性试验样品负载并且工作空间内有空气循环条件下，符合GB/T 2423.1和GB/T 2423.2气候试验规定的要求。本方法主要适用于用户进行常规的试验箱性能监测。