二极管测试仪

基础能力

*大输出能力：电压1200V电流200A

*小时间测量值：0.1ns

Windows系统的控制计算机

LabVIEW软件界面

物理规格

单机尺寸：800×800×1800mm

质量：165kg

系统功耗：200w

ST-AC1200_S_R
开关时间（阻性）测试单元
美军标750
方法为3472

脉宽：0.1us~100us步进0.1µs

栅极电压：0~20V，分辨率0.1V

栅极电流*大10A

漏极电流*大75A（支持扩展200A、500A）

占空比小于0.1%

VDD/漏极电压 5V~100 V分辨率0.1V

100V~1200V分辨率1.0VST-AC1200_D
反向恢复特性测试单元
美军标750
方法3473

IF/正向电流：0.1~50A@0.1A分辨率

50~200A@0.5A分辨率

di/dt/反向电流斜率：25-600A/uS 1.0A/nsSteps

VR/反向电压：20~1200V

IRM/反向电流：总正向和反向*大电流200A以内。

占空比：＜1.0%

TRR/反向恢复时间范围：1ns~2us

VDD/漏极电压：5V~100 V，0.1V Steps

100V~1200V，1.0V Steps

Qrr/反向恢复电荷：0.1nC~100uC

ST-AC1200_Q
栅电荷测试单元
美军标750，
方法3471

栅极电流：0~10mA@10uA分辨率

栅级电压：0~20V@0.1V分辨率

漏极电压：5V~100 V，0.1V Steps

100V~1200 V，1.0VStepsST-AC1200_S_L
开关时间（感性）测试单元
美军标750，
方法3477

漏极电流：1.0~50A@0.2A分辨率

电感：0.1mH至159.9mH

栅极电压：0~20V@0.1V分辨率

漏极电压：5V~100V，0.1V Steps

，1.0V Steps

ST-AC1200_S
短路特性测试单元
美军标750，
方法3479

*大电流：标配200A（选配1000A）

脉宽：1us~100us

漏极电压5V~100V，0.1V Steps

100V~1200 V，1.0VStepsST-AC1200_RC
栅电阻结电容测试单元
JEDEC Std
JESD24-11

Rg/栅电阻：0.1~100Ω

结电容参数：Ciss，Coss，Crss

漏极偏置电压：1200V*大

栅极偏置电压：0~20V@0.1V分辨率

频率：标配0.1MHZ~1MHZ

电网环境

AC220V±10%，50Hz±1Hz。