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九域半导体科技（苏州）有限公司

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少子寿命测试仪

品牌：九域

产地：江苏

型号： er10

样本：下载

报价：面议

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核心参数

产地类别：国产

少子寿命测量范围： 10ns-1000ns

贯穿深度： 300

样品尺寸： 50*50

电阻率测量范围： 0.2-30

测试材料：金属

产品介绍

是一款硅片少子寿命测试仪，不仅适用于硅片少子寿命的测量，更适用于硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿命的测量。少子测试量程从1μs到6000μs，硅料电阻率下限达0.1Ω.cm(可扩展至0.01Ω.cm)。测试过程全程动态曲线监控，少子寿命测量可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况，是原生多晶硅料及半导体及太阳能拉晶企业不可多得少子寿命测量仪器。

■适用于低阻硅料少子寿命的测量，电阻率测量范围可达ρ>0.1Ω?cm（可扩展至0.01Ω?cm），完全解决了微波光电导无法检测低阻单晶硅的问题。

■全程监控动态测试过程，避免了微波光电导（u-PCD）无法观测晶体硅陷阱效应，表面复合效应缺陷的问题。

■贯穿深度大，达500微米，相比微波光电导的30微米的贯穿深度，真正体现了少子的体寿命的测量，避免了表面复合效应的干扰。

■专业定制样品架最大程度地满足了原生多晶硅料生产企业测试多种形状的硅材料少子寿命的要求，包括硅芯、检磷棒、检硼棒等。

■性价比高，价格远低于国外国外少子寿命测试仪产品，极大程度地降低了企业的测试成本。

售后服务

产品货期： 50天

整机质保期： 1年

培训服务：安装调试现场免费培训

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硅片方阻电阻率测试仪

型号：RP-2000

面议

工商信息

企业名称

九域半导体科技（苏州)有限公司

企业信息已认证

企业类型

信用代码

91320594MA26X2E51L

成立日期

2021-08-24

注册资本

1000

经营范围

晶圆电阻率测试仪硅片方阻测试仪涡流法低电阻率分析仪晶锭电阻率分析仪 ,迁移率测试仪，少子寿命测试仪

联系方式

九域半导体科技（苏州）有限公司

公司地址

苏州工业园区星湖街328号创意产业园4-B201-024单元

客服电话

九域半导体科技（苏州）有限公司为您提供九域少子寿命测试仪er10，九域er10产地为江苏，属于国产少子寿命测试仪，除了少子寿命测试仪的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供硅片方阻电阻率测试仪,null客服电话，售前、售后均可联系。

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