华瑞高HDS-35屏蔽效能测试系统

产品介绍：适用于屏蔽织物、金属薄板、非导电材料表面涂层或镀层、金属网、导电膜、导电玻璃、导电介质板等平板型电磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的测量
适用标准：GB/T 30142-2013。GJB 6190-2008、GB/T 25471-2010、ASTM 4935-2010（更替ASTM 4935-99）等参考适用；

产品特点：

HDS-35法兰同轴屏蔽效能测试装置是美国材料试验协会标准ASTM4935规定的法兰同轴的高频延伸版本，高精密加工的同轴法兰部件在测试频率范围内具有非常小的驻波比和非常低的插入损耗，有效的保证了测试结果的真实性与准确性，测试装置核心部件镀金处理，保证良好性能的同时具备美观耐用性。

技术参数：

1. 测试频率范围：按标准在30MHz～3GHz内使用（可在9kHz～4GHz内使用，驻波比不大于1.6）

2. 驻波比（VSWR）：＜1.15（30MHz～3GHz）

3. 插入损耗：＜0.8dB（30MHz～3GHz）

4. 外形尺寸：200mm×94mm（L×D）

5. 重量：3kg