光学薄膜测量设备_报价-深圳市矢量科学仪器有限公司

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全部光学薄膜测量设备关键尺寸测量设备其他晶圆缺陷检测设备

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核心参数：

薄膜计量光谱反射仪

品牌：德国SENTECH

型号： RM 1000/RM 2000

产地：德国

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薄膜计量膜厚探头

品牌：德国SENTECH

型号： FTPadv

产地：德国

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薄膜计量光谱反射仪软件

品牌：德国SENTECH

型号： FTPadv Expert

产地：德国

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薄膜计量激光椭圆仪

品牌：德国SENTECH

型号： SENTECH SE 500adv

产地：德国

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薄膜计量椭圆光谱仪

品牌：德国SENTECH

型号： SENresearch 4.0

产地：德国

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薄膜计量椭圆光谱仪

品牌：德国SENTECH

型号： SENTECH SENpro

产地：德国

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薄膜计量红外光谱椭圆仪

品牌：德国SENTECH

型号： SENTECH SENDIRA

产地：德国

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薄膜计量光谱仪软件

品牌：德国SENTECH

型号： SpectraRay/4

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公司名称：深圳市矢量科学仪器有限公司

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化学气相沉积设备物理气相沉积设备纳米压印设备退火炉

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