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产地类别: 进口
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XDV-μ型系列仪器是专为在极微小结构上进行高精度镀层厚度测量和材料分析而设计的。该系列仪器均配备用于聚焦X射线束的多毛细管透镜,光斑直径(FWHM)可达10至60μm。短时间内就可形成高强度聚焦射线。除了通用型XDV-μ型仪器,还有专门为电子和半导体行业而设计的仪器。如XDV-μ LD是专为测量线路板而优化的,而XDV-μ wafer是为在洁净间使用而设计的。
Advanced polycapillary X-ray optics that focus the X-rays onto extremely small measurement surfaces
先进的多毛细管透镜,可将X射线聚集到极微小的测量面上
现代化的硅漂移探测器(SDD),确保极高的检测灵敏度
可用于自动化测量的超大可编程样品平台
为特殊应用而专门设计的仪器,包括:
XDV-μ LD,拥有较长的测量距离(至少12mm)
XDV-μLEAD FRAME,特别为测量引线框架镀层如Au/Pd/Ni/CuFe等应用而优化
XDV-μ wafer,配备全自动晶圆承片台系统
测量未布元器件和已布元器件的印制线路板
在纳米范围内测量复杂镀层系统,如引线框架上Au/Pd/Ni/CuFe的镀层厚度
对最DA12英寸直径的晶圆进行全自动的质量监控
在纳米范围内测量金属化层(凸块下金属化层,UBM)
遵循标准 DIN EN ISO 3497 和 ASTM B568
分析诸如Na等极轻元素
分析铜柱上的无铅化焊帽
分析半导体行业中C4或更小的焊料凸块以及微小的接触面
企业名称
昆山奥谱玛精密仪器有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
320583000201904220538
成立日期
2013-05-07
注册资本
100
经营范围
仪器仪表、检验设备、五金及配件的上门安装、维修服务及销售;金属材料的销售;计算机软件开发、销售及技术咨询服务;货物及技术的进出口业务。(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)
公司地址
昆山市玉山镇成功路168号
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公司名称: 昆山奥谱玛精密仪器有限公司
公司地址: 昆山市玉山镇成功路168号 联系人: 秦经理 邮编: 215600
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