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核心参数
仪器种类： 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
行业专用类型： 通用
产地类别： 国产
元素分析范围： S (16)~U (92)
分析含量范围： 1ppm—99.99%
能量分辨率： 160ev
重复性： 0.1%
探测器： Si-Pin
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X射线镀层测厚仪Thick880
---专业的金属电镀层测试专家
产品优势和特点
*超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面
*易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果
*有助于识别镀层成分的创新型功能
*机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室
*按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件镀层厚度的精确结果
*使用PC机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书
*用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心
*Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络，检测结果易于查看和分享
*有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的保证客户使用
测试样品示例
仪器应用演示
打开仪器上盖
2、放入样品
3、在软件中点击“开始”按钮,测量完成,显示分析结果
XRF镀层分析仪硬件性能及优势
元素分析范围从硫(S)到铀（U）
同时可以分析几十种以上元素，五层镀层
分析检出限可达2ppm,镀层分析可以分析0.005um厚度样品
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
仪器配置
高压电源 0 ~ 50KV
光管管流 0μA ~ 1000μA
数字多道分析器
摄像头
滤光片可选择多种定制切换
美国进口半导体探测器
测试时间可调 10sec ~ 100sec
仪器环境要求
环境温度 15°C ~ 30°C
相对湿度 35% ~ 70%
电源要求 AC 220V±5V, 50/60HZ
企业名称
苏州市实谱信息科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
320508000138502
成立日期
2015-05-29
注册资本
200
经营范围
仪器信息网APP
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