ROHS测试仪介绍及分析原理

　　国内首创、全球领先的多导毛细管技术，轻松应对超小测量点薄涂层和极薄涂层的测量分析，在柔性电路板、芯片封装环节、晶圆微区的镀层厚度和成分自动测试分析中尽显优势主要利用X射线全反射原理，从X射线管激发出来的X射线束在毛细玻璃管的内壁以全反射的方式进行传输，利用毛细玻璃管的弯曲来改变X射线的传输方向，从而实现X射线汇聚，同时将X射线的强度增加2～3个数量级。接下来和一六仪器一起了解ROHS测试仪介绍及分析原理。

　　1.1 XRF射线的发现：

　　1895年德国物理学家伦琴发现X射线。

　　1896年法国物理学家GEORGES S 发现X射线荧光。

　　1948年，美国海军实验室弗利德曼和伯克斯应用盖克计数器开发出第一台波长色散X射线工荧光光谱仪。

　　20世纪七年代末，我国开始引入X射线荧光光谱仪。

　　1.2 X射线荧光光谱仪的种类(按规模分)：

　　便携式工荧光能谱仪：同位素源为激发源，体积小巧，便于携带，不能达到大型荧光能谱的分析精度，定性半定量，可同时分析黄金(AU)等24种元素，主量元素分析准确度可达1%以内。

　　小型管激发X-荧光能谱仪：探测器采用正比计数管技术，体积较小，价格便宜，单元素的高含量的分析，分辨率较差，不能对相邻元素进行分析，不能进行多元素分析，一般仅对一个元素进行半定量分析。

　　大型X-荧光能谱仪：采用SI(LI)探测器技术，很高的稳定性，很高的灵敏度，准确度和重现性，可同时分析NA-U的各种元素，分析的浓度从100%--PPM级。

　　微区X-荧光能谱仪：从事材料的平均成份分析，可对微区选择的分析，价格较高。

　　1.2 X射线荧光光谱仪的种类(按原理分)：

　　1.3 WDXRF与EDXRF对比：

　　以上就是一六仪器整理分享的关于ROHS测试仪介绍及分析原理，希望可以帮助到大家，想了解更多相关资讯，欢迎持续关注。