ezAFM 便携式原子力显微镜上海睿忱代理英国 NanoMagnetics ezAFM - 便携式原子力显微镜, 结构紧凑, 高稳定性, 使用方便易安装, 高性价比, ezAFM - 原子力显微镜是纳米技术与科研院校的理想选择.ezAFM 便携式原子力显微镜优势• 扫描区域宽泛 120x120x40 μm or 40x40x4 μm• 性价比超高• 结构紧凑小巧,易安装,使用方便• 各部件分离设计,无定位悬臂设计• 终身免费软件升级• 1小时内完成安装• 使用电压低技术规格• Alignment free cantilevers, commercially available• 120x120x40 μm or 40x40x4 μm scan range• Contact, Dynamic/Phase Imaging, Lateral Force & MFM modes• 65 fm√Hz noise floor• 2μm resolution integrated optical microscope• Full HD, 390x230μm FOV, 2,516x1,960 pixels, 30fps, video camera• 24Bit ADCs/DACs• Digital Feedback with FPGA/DSP• Free software upgrades for lifetime• Unlimited user license• USB interfaces• Sample Size, 10x10x5mm (Configurable for unlimited sample size)扩展成像选项• Scratching Lithography• Scanning Tunneling Microscopy (ezSTM)• Liquid Cell配件• Signal Access Module• 40 mm stroke XY motorized sample positioner• 2 mm stroke XY manual sample positioner上海睿忱代理英国 NanoMagnetics 仪器 1998年在牛津成立, 作为世界领先的原子力显微镜 AFM 制造商, 主营环境扫描探针显微镜 SPM, 低温扫描探针显微镜等, 适用于产品表面特征分析, 生命科学, 原位成像, 材料科学, 薄膜等领域. 原子力显微镜 AFM 广泛应用于牛津大学, 斯坦福, 京都大学, NASA 等顶级学府和科研院所.

上海睿忱代理英国 NanoMagnetics 仪器振动样品磁强计 VSM 主要用于测量块状, 粉末, 薄片, 单晶和液体各种材料的测量. 振动样品磁强计VSM 可完成磁滞回线, 起始磁化曲线, 退磁曲线及温度特性曲线, IRM 和 DCD 等曲线的测量. 搭配不同的高低温选件可进行磁化数据的温度函数的测量, 测定居里温度点等.VSM Measurement Parameters •    振动头振动频率(校准):1-100Hz•    VSM振荡幅度范围：0.1mm-5mm•    最大样品直径：6mm•    适用于液体、粉末、块状样品测试SensitivityParameters•   RMS 灵敏度5 × 10-7emu•   超高稳定性±0.05% 每天SystemProperties•   非常简单易用的高温炉/低温选件 2-1000k测试温度范围•   气冷电磁铁电源•   磁场励磁速度:取决于电源和电磁铁Longitudinalconfiguration•   室温系统：磁场沿水平轴，样品振动和磁矩测试在垂直方向•   低温系统：磁场，样品振动和磁矩测试在垂直方向，最高磁场可达14TSample Holder•   对于块状、粉末、液体、薄膜样品，都有相应的样品杯 

上海睿忱英国 NanoMagnetics 仪器 ezHEMS 霍尔效应测试仪为 Van der Pauw 和 Hall Bar 测量提供了一个创新的解决方案. ezHEMS 霍尔效应测量独特的设计使得用户能够以最高分辨率和精度测量 80K 到800K 之间的样品, 所有的磁铁移动和温度变化都可以自动完成而不会改变组件.ezHEMS™ 霍尔效应测试仪软件支持不同测量数据记录和绘图: I-V 曲线, 电阻, 电阻率, 薄层电阻, 磁阻, 载流子浓度, 霍尔迁移率, 霍尔系数作为温度的函数霍尔效应测试仪 ezHEMS 主要用于测量半导体材料的载流子浓度, 迁移率, 电阻率, 霍尔系数, 导电类型等重要参数, 是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性的必备工具.霍尔效应测试仪 ezHEMS 主要由恒电流源, 范德堡法则终端转换器, 常温测量系统, 低温 ( 80K~常温 ) 测量系统, 高温 ( 常温~800K ) 测量系统及固定磁场强度输入系统组成, 拥有研究半导体材料霍尔效应所有的部件和配置, 测试速度快, 测量精度高, 重复性好.霍尔效应测试仪 ezHEMS 主要特点恒电流源 ( 2nA ~ 20mA ) 采用六级电流范围设置, 将可以接收的误差降到最低; 范德堡法则转换使用非接触装置有效降低仪器噪声, 具有可靠的精度及重现性.具有常温, 液氮低温, 以及高温测量系统 ( 80 ~ 800K )恒定磁场( 0.6T )不同尺寸不同材料的薄膜样品更容易测量测试速率快, 可同时测量得到体载流子浓度 ( Bulk carrier concentration ), 表面载流子浓度 ( Sheet carrier concentration ), 迁移率 ( Mobility ), 电阻率 ( Resistivity ), 霍尔系数 ( Hall coefficient ), 磁致电阻 ( Magnetoresistance ), 电阻的纵横比率( Vertical / Horizontal ratio of resistance ) 等参数.霍尔效应测试仪 ezHEMS 技术参数电阻率: 10-4 至 109 Ω-cm ( 样本依赖 )迁移率: 1 至 107 cm2 / Volt-sec ( 样本依赖 )载流子浓度: 10e7 至 1021 per cm-3 ( 样本依赖 )输入电流: ±2 nA 至 ±20 mA, ±12 V compliance最小霍尔电压测量: 0.1 μV支持 Van der Pauw 和 Hall bar 成形试样磁场强度: 0.6 Tesla 或 1 Tesla 永久磁铁温度范围 80-750K, 分辨率 ±0.2 K, 单一系统的整个温度范围可选更高的范围Pt-100 电阻温度计, 750K 加热器, PID 温控器通过 USB 接口进行电脑控制样品尺寸从 5x5 mm 至 15 mm x 15 mm, 适用样品厚度 样品测量板: 弹簧样品板ezHEMS 软件控制磁铁运动霍尔效应测试仪 ezHEMS 应用领域睿忱科仪英国 NanoMagnetics 仪器霍尔效应测试仪 ezHEMS 可广泛应用于半导体器件和半导体材料电学特性表征, 精确测量半导体材料的载流子浓度, 迁移率, 电阻率, 霍尔系数等重要参数.测量材料: Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, TCO ( including ITO ), AlZnO, FeCdTe, ZnO 等所有半导体薄膜材料导电类型判断 (P 型和 N 型 )材料载流子浓度, 迁移率, 方块电阻等参数测量材料掺杂杂质激活能测量欢迎联系上海睿忱科仪.021-52217366